硅外表有机分子的修饰与改性.pdfVIP

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  • 2018-06-03 发布于贵州
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硅外表有机分子的修饰与改性

摘要 摘要 有机分子功能广泛,将它用于半导体装置,可以大大改善现有装置的光电性 能,有广阔的应用前景。了解有机分子与半导体硅表面的相互作用,可以有计划、 可控制地改变并完善半导体装置如微电子器件及传感器等的电性能。在这一背景 下,近年来试图从根本上了解单晶硅表面与有机分子相互作用,探索简单易行的 将功能性有机分子修饰到硅表面的工作不断大量涌现。充分利用有机化学的键合 手段,一方面保持硅片基体与修饰分子的良好接触与稳定接合,另一方面可以使 得硅表面表现出比Si.H表面更稳定更丰富的光电物理化学性质。 本论文中,运用多种现代表面分析手段,较为系统的研究了通过“湿化学” 方法(主要是Si.H、Si.Cl及硅烷偶联剂与有机分子之间简单的化学反应)修饰 有机分子及CdTe纳米晶后的单晶硅和ITO表面的物理化学性质。具体研究内容 摘要如下: 1.制备了可用于进一步反应的Si.H表面,通过热引发的湿化学反应(9位 乙烯基咔唑分子与Si-H表面的反应)这一简单的途径,将具有Ⅱ一共轭结构的有 机分子直接通过化学键修饰到单晶硅表面。并且运用静态水接触角、XPS、FTIR 对反应后所得表面的性质作了表征。通过对表征结果的分析及对量子化学数据的 探讨证明9位乙烯基咔唑分子是通过Si-C键与单晶硅表面相连。而且分子与表 面成一定的角度。反应所形成的单晶硅表面的9位乙烯基咔唑单分子膜较致密稳 定。 2.通过简单的Si-Cl表面与NH/NH2官能团的反应,用简便的“湿化学”方 法将三种不同的有机分子(吡咯、对苯二铵、对溴苯甲酰肼)嫁接到单晶硅表面。 Photoelectron 并且,我们用静态水接触角、x射线光电子能谱(X-ray Spectroscopy, Force XPS)、原子力显微镜(AtomMicroscopy,AFM)等手段对反应后的单晶硅表 面进行了结构性能和表面形貌的表征。表征结果表明,有机分子通过Si.N键以 共价键键合的方式连接到了硅表面上,这证明了利用Si.C1与NH/NH2官能团将 有机分子修饰到硅表面这一方法是简单有效的,而且形成的有机分子膜较致密和 稳定。 摘要 3.通过简单的实验步骤,利用硅烷偶联剂在硅表面、ITO表面和石英表面 成功地嫁接了CdTe纳米晶,形成了固体表面.硅烷偶联剂(APTES).纳米晶的三层 结构。静态水接触角测试的结果证实了反应过程的发生;AFM图像揭示了在ITO 表面嫁接金属有机配合物前后的形貌的变化规律;循环伏安法探讨说明了CdYe 纳米晶连接在ITO表面之后的电化学行为;荧光光谱法和荧光显微镜研究了CdTe 纳米晶嫁接在ITO表面后的荧光性能。所有的研究方法都直接和间接的证明了通 过硅烷偶联剂在固体表面上嫁接cdTe纳米晶的方法是可行和有效的。 关键词:Si000)表面,化学键合,有机分子,CdTe纳米晶 II Abstract Abstract surfaceshas recent various moleculesonsilicon During organic years,attaching becomean ofthesurfacemodificationin aspect increasinglyimportant microelectronicsand is to andcreate possible sensingtechnology.It

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