公差配合与检测技术 第5章 表面粗糙度.pptVIP

5.1概述 图5-1 加工误差示意图 本课小结 表面粗糙度是指零件被加工表面上的微观几何形状误差。它不同于表面宏观几何形状误差以及表面波度 。 表面粗糙度影响零件的使用性能。 5.2 表面粗糙度国家标准5.2.1取样长度l 表5-1 取样长度与评定长度的选用值 (摘自GB1031—1995) 取样长度应与表面粗糙度的要求相适应(表5-1)。取样长度过短，不能反映表面粗糙度的实际情况；取样长度过长，表面粗糙度的测量值又会把表面波度的成分包括进去。在取样长度范围内，一般应包含5个以上的轮廓峰和轮廓谷。 5.2.2评定长度 评定长度是指用于判别被评定轮廓表面粗糙度所必须的一段长度。 如图5-2所示。 图5-3 轮廓中线 （2） 轮廓算术平均中线 5.2.4评定参数 1.高度特征参数——主参数 （1）轮廓算术平均偏差 在取样长度内，被测表面轮廓上各点至基准线距离Yi的绝对值的平均值（图5-4）。 图5-4 轮廓算术平均偏差 （2）微观不平度十点高度 在取样长度内，被测实际轮廓上5个最大轮廓峰高的平 均值与5个最大轮廓谷深的平均值之和（图5-5）。 2.间距特征参数——附加参数 图5-6 轮廓间距参数 3.形状特征参数——附加参数 4.表面粗糙度国家标准 本课小结 用以测量或评定表面粗糙度数值大小的基准线 有轮廓最小二乘中线和轮廓算术平均中线 。 国家标准中，轮廓算术平均偏差Ra 、微观不平 度十点高度Rz 、轮廓最大高度Ry的定义，及它们 三者的测量特点。 表面粗糙度数值已经标准化。 5.4.5 表面粗糙度代（符）号在图样上的标注实例 表面粗糙度代（符）号应注在可见轮廓线、尺寸界线或其延长线上，符号的尖端必须从材料外指向被注表面，数字及符号的注写方向必须与尺寸数字方向一致。 图5-12中心孔、圆角、倒角的表面粗糙度标注示例 本课小结 国标规定了表面粗糙度符号、代号的特殊意义。 表面粗糙度代（符）号在图样上的标注必须规范 化。 5.5 表面粗糙度的检测1. 比较法 比较法是指将被测表面与已知高度特征参数值的粗糙度样板相比较,从而判断表面粗糙度的一种检测方法。 2. 光切法 光切法是指利用光切原理来测量表面粗糙度的一种方法。常用的测量仪器是光切显微镜，又称双管显微镜。 光切法的基本原理 光切显微镜由两个镜管组成，右为投射照明管，左为观察管。两个镜管轴线成90°。照明管中光源1发出的光线经过聚光镜2，光阑3及物镜4后，形成一束平行光带。这束平行光带以45°的倾角投射到被测表面。光带在粗糙不平的波峰S1和波谷S2处产生反射。S1和S2经观察管的物镜4后分别成像于分划板5的S1’和S2’。若被测表面微观不平度高度为h，轮廓峰、谷S1与S2在45°截面上的距离为h1，S1’与S2’之间的距离h1’是h1经物镜后的放大像。若测得h1’，便可求出表面微观不平度高度h。 K—物镜的放大倍数。 图5-14 光切显微镜测量原理 3 . 干涉法 干涉法是指利用光学干涉原理来测量表面粗糙度的一种方法。常用仪器是干涉显微镜。 图5-16 6JA型干涉显微镜外形图 图5-18 干涉条纹 4. 针描法 针描法是利用仪器的测针与被测表面相接触，并使测针沿被测表面轻轻滑动来测量表面粗糙度的一种方法，又称轮廓法。电动轮廓仪就是针描法测定表面粗糙度的常用仪器。 国产BCJ-2型电动轮廓仪测量原理 将被测工件1放在工作台6的定位块7上，调整工件（或驱动箱4）的倾斜度，使工件被测表面平行于传感器3的滑行方向。调整传感器及触针2的高度，使触针与被测表面适当接触。启动电动机，使传感器带动触针在工件被测表面滑行。由于被测表面有微小的峰谷，使触针在滑行的同时还沿轮廓的垂直方向上下运动。触针的运动情况实际上反映了被测表面轮廓的情况。将触针运动的微小变化通过传感器转换成电信号，并经计算和处理，便可由指示表5直接显示出Ra的大小。 本课小结 比较法测量表面粗糙度简单易行，但评定结果取决于检 测人员的经验。光切法利用光切原理测量表面粗糙度， 主要用于测定 和 ，不适于测量粗糙度要求较高的的 表面及不规则表面的Sm值。干涉法利用光学干涉原理测 量表面粗糙度，干涉法主要用于测量表面粗糙度的Rz和 值，不适于测量非规则表面 。针触法是利用仪器的 测针与被测表面相接触，并使测针沿被测表面轻轻滑动 来测量表面粗糙度的，它的最大优点是能够直接读出表 面粗糙度 的数值，但测量范围为 0.01~5μm。 表5-9 表面粗糙度的代号标注示例 代 号 意 义 代 号 意 义 用任何方法获得的表面