基于APD光电探测器电路研究与设计.docVIP

资料来源 电子下载网 下载时间 2010-7-24 20:00:11 本文地址 http://3/tongxin/yingyong/1/729.html 基于APD的光电探测器电路研究与设计     光电探测器电路用于对光电转换器件输出的微弱电压或电流信号进行放大、处理和整形输出。对于不同探测用途而采用的光电转换器件不同，与之配合使用的光电探测器电路性能也因此而不同。如果用来进行光电转换，则重点考虑的是器件的光电转换效能和匹配方式。这里介绍一种用雪崩光电二极管(APD)与光电探测器电路匹配使用的最佳方法。针对如何提高光电信号前置放大器信噪比这一关键问题，进行了分析和实践。在设计电路过程中，除了电路结构的考虑外，对工艺的考虑也是必须的。由于电路结构设计、工艺设计考虑周全，设计的光电探测器电路信噪比高。这里还介绍通过用自制的噪声发生器对光电探测器电路进行定量的分析，测算出探测器的增益和信噪比。该研究是设计满足各种光电信号转换电路的一个重要步骤。 1 器件的选择 1．1 提高APD的光电转换效能     雪崩光电二极管(Aualanche Photo Diode，APD)的光电转换效能主要是对信号有倍增作用，它比一般光电二极管的功率电平所产生的响应高几十或几百倍。倍增与偏压有关，反偏压越大，倍增G也越大，如图1所示。一旦电压达到某个值，APD会被击穿，此电压就是雪崩电压VB。设置APD的工作点一般略小于VB，如图2所示。 未调制时，由平均光通量P0所产生的散粒噪声引起的电流波动Ic可表示为：        由于热噪声和放大器内部产生的噪声引起的电流波动Ib为：     对噪声源模型的特征和噪声进行分析。当信号光强度取最大振幅值Pmax时，电流值Jsmax为：        利用这些公式可以计算由光信号变换成电信号时的信噪比为：        因为光电检测器内部阻抗很大，可看作电流源，所以若检测器的负载阻抗大的话，则Ib2就下降，结果使得SNR增加，所以一般负载电阻取得较大，但不能太大。若加大负载电阻，则放大器输入端的时间常数CR对频带的限制增强，高频信号成分受到抑制，而这两方面的需求却是互相制约，互相矛盾的。然而，Ib2的减小所引起SNR的增加与高频信号衰减所引起SNR下降可得到补偿。要放大频率在10 MHz范围内的信号，光电检测器与APD配合使用的前置放大器件选用输入阻抗大的结型场效应管较为有利，上述分析就为设计光电探测器电路系统奠定了选择。 1．3 噪声对光电探测器电路的影响     一般用作高灵敏度电子探测设备的光电探测器前置放大电路，噪声系数要求很严格。因为在放大微弱信号的场合，放大器自身对噪声的放大和受噪声信号的干扰可能很严重，光电探测器所接收到的信号一般都非常微弱，而且光探测器输出的信号往往被深埋在噪声之中，因此，要对这样的微弱信号进行处理，一般都要先进行预处理，将大部分噪声滤除掉，并将微弱信号放大到后续处理器所要求的电压幅度。因此，希望减小噪声以提高输出的信噪比。由放大器所引起的信噪比恶化程度通常有几种噪声系数的影响。 考虑Johnson噪声折合成起伏电流为：    以及结型场效应管噪声主要导电沟道的电阻所产生的沟道热噪声：        还有几种栅极感应噪声、栅极散粒噪声、1／f噪声。由于高频等因素，在一般情况下可以忽略不计。 由此，得到了图4相应的简化噪声等效电路，如图5所示。同样可以将式(2)写成电流表示形式：        由图5可知：        由于实际电路中1／R2≤ω2(Co+Ci)2，所以1／R2可以不计。将|Y|2=ω2(Co+Ci)2代入式(3)，并将式(2)代入式(3)，得： 若输入端信号电流为Is，则信噪比为：    2 光电探测器电路设计     综上所述，需要设计一个高增益的光电探测器电路。为了使光电探测器能高精度地检测及传送微弱信号，一个重要的措施就是选择具有抗强干扰的低噪声前置放大器。该前级部分由雪崩光电二极管(APD)与前置放大器组成，这也是光电探测器电路的核心部分，其器件选用高性能、低噪声放大器来实现电路匹配，并将电流转换成电压信号，以实现数倍的放大。理论上看，前置放大器倍数可以设计得很大，但由于会引入热噪声而限制电路的信噪比，因此前置信号也不能放得过大。在前置放大器后再加人运算放大器，这样就不会造成信噪比下降，并保证了光电探测器电路的放大倍数。其中，低噪声放大器对整个接收系统的性能指标起着关键作用，设计出性能好的放大器可以带来10 dB的噪声改善。为降低放大器的噪声，应选用高跨导(gm)低噪声结型场效应管。由于选用APD作为光电转换器，要克服噪声的影响，应注意减少寄生效应，如寄生电容效应等。要最大限度地降低极间电容的影响，应注意装配工艺设计，减小APD的输