高光谱透射成像的鸭梨内部缺陷检测方法研究.pptVIP

高光谱透射成像的鸭梨内部缺陷检测方法研究;本研究以鸭梨为研究对象，采用透射方式采集样本的高光谱图像，初步探索了基于高光谱透射图像分析的鸭梨内部缺陷检测方法。;设计完成了载物台高度可调的高光谱透射成像系统。实验结果表明，在475-950 nm波段，正常鸭梨对应的DN值大于黑心鸭梨，;但两者波峰所在的位置一致，且在708 nm处差别最大；对500-900 nm波段高光谱透射图像进行主成分分析的结果表明，;第一主成分图像可用于褐变果的识别，当全局阈值设定为30时，可从第一主成分图像中将褐变部分颜色较深的区域分割出来，初步实现了对黑心鸭梨的检测。;利用Affymetrix水稻基因芯片研究了水稻强势粒和弱势粒灌浆3 d和9 d的基因表达变化，并着重分析了淀粉合成代谢相关基因的表达模式。结果表明，在检测到信号的59个基因中，灌浆后9 d相比3 d表达丰度上调2倍的基因有21个，;包括SUS2、AGPS2、AGPL2、GBSSⅠ、SSⅡa、BEⅠ等，这类基因对水稻籽粒淀粉合成和灌浆起了至关重要的作用。同时，此类基因在强势粒中的表达丰度以及上升幅度均高于弱势粒，表明强、弱势籽粒灌浆差异可能源于淀粉合成能力的差异。;灌浆后9 d相比3 d表达丰度下调2倍的基因有12个，包括CIN2、SPS3、AGPL1、GBSSⅡ、SSⅢb等，这类基因可能参与胚乳细胞基本结构的形成以及初始淀粉粒的产生。