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宇航用半导体器件重离单粒子试验方案
宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验方案1 试验目的本规范详细说明了使用XXX源对XXX器件进行单粒子效应辐照试验（SEU、SEL、SET等）的要求。2 适用范围本规范适用于XXX 器件单粒子效应试验。3 引用标准及文件GB 4792－1984 放射卫生防护基本标准GJB 1649－1993 电子产品防静电放电控制大纲GJB 2712－1996 测量设备的质量保证要求 计量确认体系GJB 3756－1999 测量不确定度的表示及评定4 试验要求4.1 一般要求辐照试验应符合QJ 10005－2008《宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验指南》的规定。4.2 辐射源辐射源地点加速器名称离子种类能量（MeV）LET（MeV/mg/cm2）Si中射程（μm）4.3 试验样品样品类别工程型号样品名称样品型号生产批次样品工艺质量等级生产单位样品数量封装形式样品编号电测情况电参数测试系统4.4 试验线路板试验线路板应符合QJ 10005－2008《宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验指南》的规定。4.5 单粒子效应测试系统单粒子效应测试系统应符合QJ 10005－2008《宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验指南》的规定。5 试验流程按QJ 10005－2008《宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验指南》的规定，制定试验流程。6 辐照试验工序单辐照试验工序单格式见图1。辐照试验工序单试验板号：____ ；离子：____ ；能量：____ MeV；LET值____ MeV.mg/cm2；Si中射程：____ μm；开始时间结束时间注量温度/电流测试程序单粒子事件数数据记录文件名备注图1 辐照试验工序单格式7 试验流程图发生SEU？记录错误数到规定值？器件所受注量达到指定值？完成了所需的有效LET数据点？否记录数据，器件发生不可恢复失效？功耗电流超过判据值?（发生SEL）?值是否否是是是否否是是否图1 SEU试验流程示意图完成了所需的有效LET数据点？否功耗电流超过判据值?（发生SEL）?记录数据，器件发生不可恢复失效？是否是所受注量达到指定值？否是是否图1 SEL试验流程示意图QJ 10005—2008 3 / 4
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