第8篇 原子发射光谱分析.pptVIP

第八章　原子发射光谱分析Atomic Emission Spectrometry（AES） 第一节　原子发射光谱分析基本原理basic principle of Atomic emission spectrometry 一、概述 　generalization 二、原子发射光谱的产生 　formation of atomic emission spectra 三、谱线强度 　spectrum line intensity 四、谱线自吸与自蚀 　self-absorption and selp reversal of spectrum line 一、概述 二、原子发射光谱的产生 共振线、第一共振线 由激发态直接跃迁至基态时辐射的谱线称为共振线。 由第一激发态直接跃迁至基态的谱线称为第一共振线。 Ni = N0 gi/g0 e-Ei/kT (1) 5889.96 ? 5895.93 ? 平均：5893 ? 在0 ?i 两能级间跃迁，谱线强度可表示为： 四、谱线的自吸与自蚀 1. 自吸:中心发射的辐射被边缘的同种基态原子吸收，使辐射强度降低的现象。 I = I0e-ad I0 为弧焰中心发射的谱线强度; a 为吸收系数; d 为弧层厚度 第二节 发射光谱分析仪器Instrument of AES AES仪器组成： 光源 光谱仪 观察系统 光源的作用:：对试样的蒸发和激发提供所需的能量。 对光源的要求: （1）具有足够的蒸发、原子化和激发的能力 （2）良好的稳定性和再现性 （3）试样组成影响小 （4）线性分析范围宽 （5）应用范围广泛 分类：直流电弧 　　　交流电 　　　高压火花 　　　电感耦合高频等离子体焰炬(ICP) 2. 低压交流电弧 特点： ３.　高压火花 特点： （2）原理 三.观察系统（照相法、光电直读法） 凹面光栅与罗兰圆 特点 : 3. 全谱直读等离子体光谱仪 仪器特点: 第三节 定性、定量分析方法qualitative and quantitative analysis method （1）．标准样品与试样光谱比较法 用标准样品与试样在相同的条件下摄谱 比较标准样品与试样所出现的特征谱线 若试样光谱中出现标准样品所含元素的2~3条特征谱线，就可以证实试样中含有该元素 否则不含有该元素 二.原子发射光谱的定量分析 1. 定量分析的基本关系式： 当内标元素的含量固定时C内为常数；无自吸时，b内=1 取对数后得到 : 摄谱法定量分析的基本关系式 (5).内标工作曲线法：三标准试样法 三. 原子发射光谱摄谱法的半定量分析 将试样与已知不同含量的系列标准样品在一定条件下摄谱于同一光谱感光板上 在映谱仪上用目视法直接比较被测试样与标样光谱中分析线黑度 根据黑度，估计欲测元素的近似含量 第四节　原子发射光谱分析的特点和应用 3. 定性分析实验操作技术 (1) 试样处理 a. 金属或合金可以试样本身作为电极，当试样量很少时，将试样粉碎后放在电极的试样槽内； b. 固体试样研磨成均匀的粉末后放在电极的试样槽内； c. 糊状试样先蒸干，残渣研磨成均匀的粉末后放在电极的试样槽内。液体试样可采用ICP-AES直接进行分析。 (2) 实验条件选择 a. 光谱仪 在定性分析中通常选择灵敏度高的直流电弧；狭缝宽度5～7?m；分析稀土元素时，由于其谱线复杂，要选择色散率较高的大型摄谱仪。 b. 电极 电极材料：采用光谱纯的碳或石墨，特殊情况采用铜电极； 电极尺寸：直径约6mm，长3～4 mm； 试样槽尺寸：直径约3～4 mm， 深3～6 mm； 试样量：10 ～20mg ； 放电时，碳+氮产生氰 (CN)，氰分子在358.4～ 421.6 nm产生带状光谱，干扰其他元素出现在该区域的光谱线，需要该区域时，可采用铜电极，但灵敏度低。 （3）摄谱过程 摄谱顺序：碳电极(空白)、铁谱、试样； 分段曝光法：先在小电流(5A)激发光源摄取易挥发元素光谱调节光阑，改变曝光位置后，加大电流(10A)，再次曝光摄取难挥发元素光谱； 采用哈特曼光阑，可多次曝光而不影响谱线相对位置，便于对比。 求对数，得： 式中：b=1 没有自吸, b＜1, 有自吸 I = AC b log I = b log C + log A A： gi/g0 e-Ei/kT(1-?)k/? Aihυi 跃迁几率、统计权