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梯度回波(Gradient Echo,GE) 梯度回波的T2*变化规律 GE对静止质子的作用 梯度回波(Gradient Echo,GE) 梯度回波(Gradient Echo,GE) GE序列 梯度回波(Gradient Echo,GE) 梯度回波(Gradient Echo,GE) 梯度回波序列 FLASH(扰相FLASH FLASH(扰相FLASH FLASH对比 梯度回波序列——FISP 稳态FLASH (FISP) FISP 对比度增强CE-FLASH序列 * * GE方法不采用180 ?脉冲对相位聚合，而用一对极性相反去相位梯度场与相位聚合梯度场，采用小角度翻转角便纵向磁化快速恢复，缩短了TR时间(T2相当)，同时也不会产生饱和现象，提高成像速度。 梯度场对质子进动相位的影响 若组织的T1=500ms，TR=2500ms，为86° TR=100ms，为35° 小角度激发技术 当TR一定时，?不同，得到的信号也不同；当?为Ernst角时，MR信号最强。 在TR远小于 T1 和 T2 情况下，信号几乎与TR无关。因为在短TR条件下，只要达到动态平衡，Mxy在弛豫中的衰减就被激励作用从Mz得到补充。 回波信号实际上是由前一周期的Mxy因自旋相位重聚而再度出现的结果。 当有效TETR时，图像呈 T2 加权。 图像特性与序列参数关系 若TR短(TRT2*)，当下一个周期脉冲到来时，还存在着上一个周期的横向磁化矢量，大小正比于 每次脉冲激发时，纵向磁化由以下两部分组成： 上次脉冲后保留的纵向磁化 上次脉冲后保留的横向磁化 基本FLASH GE方法是利用RF之后的FID信号进行成像，要有很短的TE，信号的衰减基本上按T2变化，也可以较真实体现组织T2特性，但若 TE 较长(TE10ms)，FID信号则按T2*变化。 GE无T2加权，而是依赖于T1/T2* GE有两个基本序列： FLASH(Fast Low Angle Shot)消除残余横向磁化矢量 FISP(Fast imaging with stead state precession) 增强残余横向磁化矢量 采用“破坏(扰相)”残余横向磁化矢量。在数据采集结合后，在沿层面选择梯度方向施加“破坏”梯度，使用残存的横向磁化矢量加速去相位，从而消除上一周期残存的横向磁化。 短 TR (5-150ms)、短 TE (1-10ms)、 中大 ? (40 ?-80 ?) 产生 T1 加权 长TR (500ms)、短TE，小? (5 ?-10 ?) 产生 PD 加权 长TR，长TE (20-40ms)，小? 产生 T2 加权 FISP(稳态FLASH) 利用残余Mxy，使其参与MR成像。数据采集结束后，在频率与相位编码方向施加极性相反的梯度，消除梯度磁场对残存的Mxy去相位作用，使上一周期残存的Mxy也保持相对幅度(稳态)。 稳态FLASH FISP对比 若TR短，FISP图像对比是具有T1和T2*的混合对比,而非T2*加权，若组织T1长，则会出现极强信号。 若TR长，则横向磁化已完全消失，图像对比同扰相FLASH。 FISP(稳态FLASH)常用于关节成像中。 使用连续的相位聚合，在第二个回波形成时，处于横向磁化矢量平衡位置附近，横向与纵向磁化矢量被分开，只收集第二个回波信号，产生T2加权像，由于TE长，所以信噪比弱。 CE-FLASH序列是得到最佳T2加权图像的GE序列。该序列对顺磁物质产生的伪影特别敏感。