集成电路制系统模型的参数化方法研究与应用.docVIP

集成电路制系统模型的参数化方法研究与应用.doc

  1. 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
  2. 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  3. 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
集成电路制系统模型的参数化方法研究与应用

硕士学位论文 (专业学位) 摘要 集成电路制造系统是公认的最复杂生产系统之一,在对其进行建模时往往对某些特征进行简化或初始设定,以保证模型的可建性和运作性,然而模型随之产生由于缺乏准确的、随实际情况变化的参数而不够精确的问题,通过模型获取的性能指标或派工方案可靠性低下,不能准确地指导科学研究和实际生产。参数化方法的主体思路是利用生产系统中存储的大量历史数据和在线数据,利用统计分析、神经网络和灰色理论等方法构建参数化模型,由此获取集成电路制造系统模型参数的潜在知识与模式,以参数化模型的输出作为集成电路制造系统模型的输入参数,为模型的构建与决策分析提供可靠的、有效的数据支撑。 首先,本文详细介绍了集成电路制造系统的数学模型、智能算法模型、Petri网模型和仿真模型,从理论角度分析了各类模型特点并介绍了每类模型中参数的存在形式,为参数化方法设计提供基础。 其次,给出了模型参数化方法框架和模型参数化方法流程,介绍了主要用到的参数算法如时间序列分析法、神经网络、灰色理论等;根据参数化方法的作用不同,将参数化方法归纳为参数化模型优化方法和参数化建模方法;给出了参数化系统的数据层、用户界面层、参数化模型层三层设计框架并详细介绍了每层的模块功能和实现技术,其中C#和MATLAB混合编程技术不仅为参数化系统实现提供了基础,更为改善系统性能提供了新思路。 然后,运用模型参数化方法解决了集成电路制造企业的两个实际需求。根据问题特点,或采用模型参数化优化建模方法提高原有模型准确率以满足企业需求,或将企业需求转化为对参数的分析建立参数化模型,并在结果不满意的情况下再次采用模型参数化优化方法改善上述参数化模型准确率以使问题圆满解决。两个模型参数化应用均搭建了相应的参数化系统,实际生产线操作人员可直接通过界面操作使用,对指导实际生产线调度和提高企业生产率有重要意义。 最后,关于进一步工作的方向进行了简要的讨论。 关键词:集成电路制造系统模型、参数化模型优化、参数化建模、神经网络、灰色理论 ABSTRACT Integrated Circuit(IC)manufacturing system is recognized as one of the most complex production systems, so when trying to build a modeling to represent the production line, we have to simplify or initial setting on some of its characteristics to make sure that the model can be built and run. However, the models build under this condition is inaccurate, fail to dynamically reflect the reality situation. In consequence, the output of the models that using to guide the research or actual production lines such as performance index and dispatch is inaccurate. The main idea of parametric methods is to utilize the large amount of historical data and on-line data stored in the production system, using statistical analysis, neural networks and gray theory or other intelligent methods to build a parametric model, and thereby acquire potential knowledge and mode of the integrated circuit manufacturing system model. The output of parametric models is as the input for IC models building to provide the reliability and validity data support. The research introduce the modeling of integrated circuit manufacturing system from modeling theor

文档评论(0)

189****7685 + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档