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X荧光仪在金属矿地质勘查中应用分析 　　【摘 要】便携式X荧光仪广泛应用在金属矿地质勘查中。X射线荧光是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，包含的分析样品化学组成信息。X荧光仪已经成为勘查金属矿地质最有效的手段之一，本文介绍了X荧光仪在金属矿地勘察中的工作原理及应用。 　　【关键词】X荧光仪；金属矿地；勘察应用 　　我国工业化进程不断加快，对能源和矿产的需求量不断的增加，在传统方式勘查金属矿地质中，已经无法满足工业化进程的发展了。利用X荧光仪对样品进行现场测量，寻找金属矿地质。在进行金属矿地质勘查时，要注意区域地质的情况。结合实际情况进行地质勘查，X荧光仪分析了元素周期表的元素，精度高，勘查时间短，可以检测固体、液体等多种而不需要复杂的制作过程。对地质矿产的勘查和工程施工也有指导作用，加快工作进度，提高了工作效率，在金属矿地质的勘查中有很重要的意义。 　　1.仪器设备与样品分析 　　（1）X荧光仪的理论基础。在1895年德国物理学家伦琴发现了X射线，1913-1914年莫塞莱对不同元素的特征X射线与原子序数的关系进行了研究，建立了莫塞莱定律。X射线荧光法定性分析就是根据莫塞莱定律。定性分析是指导了特征X射线的能量，就可以获得是那种元素发出的X射线。便携式X荧光仪工作原理是同位素γ激发源，发出的γ射线辐照在样品上，受激发出的X射线。待测元素特征X射线的能量和原子序数成正比，并且与其它的特征X射线的照射量率相关。对不同的照射量率测量，可以确定被测样品中多种元素的品位。将激发源的射线照到样本上，激发目标元素产生特征X射线，收集射线转换成电压信号，用MCA进行模数转化和分析，由计算机进行处理后得出被测样品的元素种类和含量。 　　（2）工作原理样品分析时，X射线照射待测样品后，样品和X射线中元素的原子相互作用，元素中的内壳层电子被激发出原子，引起壳层电子跃迁，发射出元素的特征X射线。元素的原子受激发后，在退激的过程中会释放出X射线能量，测定样品中特征的X射线，可以确定被测样品有何种元素。 　　（3）X荧光仪的分析方法。X射线荧光分析方式是相对的测量方??，要分别对已知含量的样品进行测量，建立工作曲线和数据库，然后进行准确的仪器分析。在野外作业时，要按要求使用标准样品对仪器进行标定，标准的样品含量保证了被测样品含量都覆盖在一定的范围内。分析的样品一般要在干燥、破碎、研磨后，进行60目筛。在作业时要根据实际情况，由于野外作业环境恶劣，岩石样品只能过15目筛，简单处理就可以，部分装入样杯进行分析，剩余部分可以在实验室进行化学分析。将制好的样品放于X荧光探头上，进行分析。在金属矿地质勘查中，要根据实际情况进行勘查。在X荧光仪测线工程布置方法上，要依据地表矿化及矿体在地表的出露情况进行布置。采用数据在各个测点采集图样做为测试样，在测试过程中会出现异常的数据。在测量中要根据测量结构和野外地质资料划分主要的异常区域，根据异常带可以判断异常点的矿化强烈和矿体走向。 　　2.X荧光仪在金属矿地质勘查中的应用现状 　　（1）X荧光仪在国内的研究现状，在20世纪60年代开展同位源激发样品试验到70年代中期的商品化携带式X射线荧光仪问世，在地质普查的不同时期，X射线荧光仪对沉积物化探样品和天然产状下的多种元素进行定性、定量测定、提供实事的分析结果。X荧光仪技术的发展和应用下，金属矿地质的勘查中有十余种矿种的勘测中得到了应用。金属相应的元素或总量有着一定的关系，元素的分布范围深远，X荧光仪测量元素是可行的，取得了明显的效果。在20世纪末，调查显示X荧光仪在广泛应用与金属矿产勘查中，分析的准确度有了更高的要求。X-射线荧光法的应用条件，使用范围和准确性在地质样品分析测试中都提出了更高的要求，在X荧光仪中这些方面要进一步改进提高。 　　（2）在X荧光仪的广泛应用中，目前X荧光仪也存在这一些问题，和国外的一起相比较而言，国外X荧光仪发展历史较长，硬件水平较高，软件的更新速度快。X射线应用在各种理论和方法日趋成熟，各种技术的研究与运用得到很好的发展。国外X荧光光谱的发展经历了三个阶段，荧光仪有很大的改进和发展。国内的X荧光仪受技术条件和认识的限制，发展一直很缓慢。国外X荧光仪同国内同等精度的仪器相比，价格高，国内设备的硬件水平低，设备精度也比较低。X荧光仪设备在不同的领域，对不同的元素的分析也是不同的。因此，要求X荧光仪的操作界面要方便、灵活。 　　（3）随着便携式X荧光仪被广泛应用于金属矿地质勘查中，对准确度和检出限提出了更高的要求。X荧光仪在地质上的应用。传统的地质找矿主要靠采样，然后进行物理和化学分析，分析的成果严重的滞后性，常常导致采样不到位和漏矿的现象发生。X荧光分析技术有快速测定、适合野外作业、成本低等特点，可以很好的弥补上述的缺点