X荧光(XRF)知识必备.doc

X荧光（XRF)知识必备 发布: 2009-6-02 08:05 | 作者: skyray998 | 来源: 6sigma品质网 1、EDX设备工作原理是什么？ 答：原理：通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光，初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线，也就是我们通常所说的X荧光，X荧光被探测器探测到后经放大，数模转换输入到计算机。计算机计算出我们需要的结果。 2、什么是我们作为元素分析的基础？ 答：特征X射线，其由被测量物质的基本组成元素决定，元素不同，其特征X射线能量不同 3．为什么XRF RoHS测金属的结果与有些权威机构有差异？ 答：（1）光谱分析为表面物理分析，比如化学溶样分析方法，两种测量方法之间的差别。 （2）金属标样自身的误差。 （3）金属样品表面有镀层 4、为什么不能测量出六价铬、PBB和PBDE的含量？ 答：因为X荧光原理决定的，X荧光光谱仪只能测量物质中的元素的总含量，而对其的化合状态无法判别，所以，六价铬、PBB和PBDE的含量无法检测。 5、为什么不能测量出六价铬、PBB和PBDE的含量？ 答：因为X荧光原理决定的，X荧光光谱仪只能测量物质中的元素的总含量，而对其的化合状态无法判别，所以，六价铬、PBB和PBDE的含量无法检测。 skyray998 (2009-6-02 08:07:32) XRF优点： 快速：一般测量一个样品只需要1～3分钟 无损：物理测量，不改变样品性质 准确：对样品可以精确分析 直观：直观的分析谱图，元素分布 一幕了然 XRF测ROHS上的缺点： 1、X荧光分析属于对比分析仪器，需要标样做对比分析 2、只可以测试样品的元素，对化合物价态无法区分。如：只能测试总溴和总铬的含量 3、它是表面分析设备 skyray998 (2009-6-02 08:14:27) 供X射线荧光分析用的各元素的特征X射线能量表 能被测量的K、L线能量 原子序号 符号 元素 Kα Kβ Lα Lβ Lγ Ll 12 Mg 镁 1.25 1.30 13 Al 铝 1.49 1.55 14 Si 硅 1.74 1.838 15 P 磷 2.02 2.14 16 S 硫 2.31 2.468 17 Cl 氯 2.62 2.82 18 Ar 氩 2.96 3.19 19 K 钾 3.31 3.59 20 Ca 钙 3.69 4.01 21 Se 钪 4.09 4.46 22 Ti 钛 4.51 4.93 23 V 钒 4.95 5.43 24 Cr 铬 5.41 5.95 25 Mn 锰 5.895 6.49