电子设备可靠性试验..docVIP

电子设备可靠性试验电子设备可靠性试验摘要可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。根据可靠性统计试验所采用的方法和目的，可靠性统计试验可以分为可靠性验证试验和可靠性测定试验。可靠性测定试验是为测定可靠性特性或其量值而做的试验，通常用来提供可靠性数据。可靠性验证试验是用来验证设备的可靠性特征值是否符合其规定的可靠性要求的试验，一般将可靠性鉴定和验收试验统称为可靠性验证试验。为了评价分析电子产品可靠性而进行的试验称为可靠性试验。试验目的通常有如下几方面：1. 在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷，评价产品可靠性达到预定指标的情况； 2. 生产阶段为监控生产过程提供信息； 3. 对定型产品进行可靠性鉴定或验收； 4. 暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理； 5. 为改进产品可靠性，制定和改进可靠性试验方案，为用户选用产品提供依据。关键词： 可靠性、 试验、 设备、 故障、reliability engineering问题重述一、电子设备可靠性1.可靠性的基本概念随着电子技术的发展，对电子设备产品也提出了更高的要求。由于设备技术性能和结构要求等方面的提高，可靠性问题愈显突出。如果没有可靠性保证，高性能指标是没有任何意义的， 现代用户买产品就是买可靠性， 对生产厂家来说， 可靠性就是信誉， 就是市场，就是经济效益。从整机来讲， 可靠性贯穿于设计、生产、管理中。从部件、 元器件的角度来讲，电子元器件的可靠性水平决定了整机的可靠性程度。可靠性属于质量的范畴，是产品质量的时间函数。从基本概念上讲，可靠性指标与质量的性能指标所强调的内容是不同的，可靠性的基本概念与时间有关（如表1所示），这些基本概念的具体化，就是产品故障或寿命特征的数学模型化。只有通过可靠性试验才能确定产品故障或寿命特征符合哪一种数学分布，才可以决定产品的可靠性指标，进而推算产品的可靠程度。在可靠性工程中， 最常见的寿命分布函数有指数分布、 威布尔分布、 对数正态分布和正态分布。2.电子设备产品的可靠性指标大量统计资料证明：电子设备产品的失效分布一般服从指数分布。从电子设备产品及许多电子元器件的失效机理来看， 随着时间的足够长， 失效率趋近于一个稳定值，其基本特征可以用指数函数的曲线相比拟，即服从指数分布，因此电子设备产品的可靠性指标有：可靠度R(t): R(t)=e- μ (1)累积失效概率F(t): F(t)=I-R(t)=1-e- μ失效密度函数f(t): f(t)=F(t)=λe- μ由上可看出在指数分布时产品的可靠性指标表示式比较简单，并且失效率λ是一个常数。在进行电子设备产品可靠性分析时，只要得到λ的数值，其它指标就可以直接算出来。二、电子设备产品的可靠性试验可靠性试验的特点和分类电子设备产品的可靠性指标是一些综合性、 统计性的指标， 与质量性能指标完全不同， 不可能用仪表、 仪器或其它手段得到结果，而是要通过试验，从试验的过程中取得必要的数据，然后通过数据分析，处理才能得到可靠性指标的统计量。可靠性指标的实现主要依靠现场试验或模拟现场条件试验，所以可靠性试验不同于一般设备的性能试验。从广义上讲，为了了解、评价、分析和提高电子设备产品的可靠性水平而进行的试验，可以用来确定电子设备产品在各种环境条件下工作或贮存的可靠性的特征量。一般说电子设备产品的可靠性试验可以分为研制阶段的试验， 可靠性验收试验， 可靠性增长试验， 元器件老炼试验， 极限试验， 负荷及过负荷试验， 过载能力试验等，这类试验的目的是了解设计是否满足了可靠性指标的要求，找出或排除设计与制造过程中的缺限和不足，证明设计可靠性能否实现，因而可靠性试验可以根据设备研制过程中的不同阶段，不同要求进行各种不同的试验。 对于不同的电子设备产品， 所要达到的目的不同，可以进行的可靠性试验形式也就各异，因此可靠性试验对于电子设备产品来说是一个系统工程，电子设备产品的可靠性试验可以归纳为以下几大类型（如图1所示）。另外，温度、振动、冲击及高温寿命、 加速寿命等试验在实际应用中较为广泛。可靠性试验具体内容评价和分析产品寿命特征的试验称为寿命试验。对于大部分电子产品，寿命是最主要的一个可靠性特征量。因此，可靠性试验往往指的就是寿命试验。寿命试验可分为非工作状态的存储寿命试验和工作状态的工作寿命试验两类。为了缩短试验周期、减少样品数量和试验费用，常常采用加速寿命试验。在不改变产品的失效机理和增添新的失效因子的前提下，提高试验应力（相对于工作状态的实际应力或产品的额定承受应力），以加速产品的失效过程。根据