第2章x射线衍射方向81qxa.pptVIP

* 三、衍射极限条件（2） 右式也说明： 即：只有那些晶面间距 d 大于入射X射线半波长λ的晶面才能发生衍射。 当然，用短波X射线，能参与反射的晶面会增多。 （2）对一定波长λ的X射线，晶体中有可能参加反射的晶面族也是有限的，须满足： * 掠射角θ：极限范围00～900、过大或过小会使衍射探测困难，使得反射级数 n 受到限制：因|sinθ|≤1 当 d 一定时，λ减少，n 可增大。 说明：对同一种 d 晶面，当采用短波X射线照射时，可获得较多的衍射线，即衍射花样变得复杂。 * 四、布拉格方程应用 布拉格方程在实验上有两种用途。 1、晶体结构分析 利用已知波长的特征 X射线照射未知结构的晶体， 通过测量各晶面衍射线的衍射角θ ，求出晶体中各晶面间距 d，从而揭示晶体的结构， 此为结构分析(structure analysis)。 * 2. X射线光谱成分分析 用已知晶面间距 d 的晶体来反射从样品发出的特征X射线， 通过测量衍射角θ，求出未知特征射线波长，从而确定样品的组成元素，即X射线光谱学(X-ray spectroscopy)。 如X射线荧光元素分析、电子探针波谱分析。 可定性、定量分析材料所含元素。 未知 样品 晶体 λ X射线或电子 特征X射线 * 五、衍射方向 －－X射线的衍射方向公式。 a 为｛hkl｝晶面晶格常数、 λ为X射线波长。 将晶体晶面间距公式与布拉格方程联立，可得该晶系的衍射方向表达式。 如：立方晶系面间距 d： 代入布拉格方程 表明：衍射方向决定于晶胞的大小 a 与形状。 即通过测定衍射束方向，可测出晶胞的形状和尺寸a。 *1 第三节 X射线衍射方法 * 第三节 X射线衍射方法 衍射现象：只要满足布拉格方程λ＝2dsinθ时，衍射就有可能发生。 不论何种晶体衍射，其中λ与θ依赖关系是很严格的。应考虑满足布拉格方程的实验方法： 1. 连续地改变λ； 2. 连续地改变θ。 由此可派生出三种主要的衍射方法，如图2-1。 * X射线衍射分析方法 方 法 晶 体 λ θ 劳埃照相法（Laue method) 单晶体 变 化 不变化 周转晶体法（rotating-crystal method) 单晶体 不变化 变化(部分) 粉末法（powder method) 多晶体 不变化 变 化 X射线衍射分析方法 * 一、劳埃法实验原理（1） （1）劳埃法： 适用于单晶体，晶体不动，采用连续X射线照射。 由X光源、晶体、底片位置不同分：透射法和反射法两种。 底片：为平板型，与入射线垂直放置。 图2-16 透射及背反射劳埃法的实验原理 * 一、劳埃法实验原理（2） 单晶体特点：每一（hkl）晶面只有一组；单晶体固定后，任一晶面与入射线的方位即θ角一定。 图2-16 透射及背反射劳埃法的实验原理 如：某晶面(h1k1l1) →面间距d1→有一合适波长λ1的X射线发生衍射，在2θ1衍射方向产生衍射斑点P1 。 波长λ1 晶面(h1k1l1) 衍射斑点P1 * 一、劳埃法实验原理（3） 由照片上各斑点到中心距离 t 可计算出 2θ角（d 值）。 D－试样到底片距离。 再由某 d 值 可得各斑点对应的是晶面(h1k1l1) ； 进一步可得到晶体结构、取向等信息。 D t * 一、劳埃法实验原理（4） 由衍射在底片上形成了规则排列的斑点，叫做“劳埃斑” (pattem)。劳埃斑均排列成椭圆或双曲线的轨迹。 铝单晶的透射和背反射劳埃照片 分析表明：同一曲线上的劳埃斑即为同一晶带的反射。 * 二、周转晶体法（1） （2）周转晶体法： 用单色X射线照射单晶体。 图2-18 周转晶体法 底片 入射X射线 晶体转轴 光学布置： 单晶体：某一晶轴或某一重要的晶向垂直于X射线； 底片：在单晶体四周围成圆筒形。 摄照：晶体绕选定的晶向（轴）旋转。转轴与圆筒状底片的中心轴重合。 * 二、周转晶体法（2） 周转晶体法特点： 用单色X光，靠旋转单晶体以连续改变各晶面与入射角θ，当某组晶面在某瞬间恰好满足布拉格角，产生衍射，底片上出现一个感光点。 衍射花样：呈层状分布， 主要用途：确定未知晶体的晶体结构，是研究晶体学的主要工具。 * 三、粉末法（1） 粉末法：用单色X射线照射多晶体试样，由数量众多的各微晶粒的不向取向来改变θ，以满足布拉格方程。 多晶体试样：如粉末、多晶块状、板状、丝状等。 * 三、粉末法（2） 当单色X射线以掠射角θ射到单晶体 0 的一组晶面（hkl）时，在满足布拉格条件下，产生衍射