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四精确测量钠光双线光谱的间距
普通物理實驗(五)—光學實驗 (實驗四 精確測量鈉光雙線光譜的間距)version 1.2 (2001年9月) 實驗四 4- PAGE 14實驗四 精確測量鈉光雙線光譜的間距一、實驗目的 認知麥克森干涉儀的應用二、實驗內容測量鈉光雙線光譜的波長測量鈉光雙線光譜的間距三、實驗器材 (一)鈉光燈組 (六)凸透鏡 (二)防震平台 (七)減速齒輪 (三)可微調反射鏡M1 (八)電離合器 (四)可移動反射鏡M2 (九)直流電源 (五)半反射鏡四、實驗步驟 圖4.1 鈉光雙線光譜實驗示意圖(一)鈉光雙線光譜的波長1.先將反射鏡M2移到10mm的位置,再參考實驗三,第三節第一段(干涉儀的調整)的說明,依步驟調整,直到圓形干涉紋,清晰出現在視野中央為止。2.轉動微調鈕使M2向前移動,當視野中的干涉紋開始移動時,記錄M2的位置d1於表4.1中。3.繼續同方向轉動M2微調鈕,同時連續計算干涉紋自中央散出200條,再次記錄M2的位置d2於表4.1中。4.兩次位置的差直 Δd (Δd=d2-d1),即為100個波長的長度和,將計算值填於表4.1中。5.反覆做三次測量,並計算出波長的平均值λ。6.表4.1項次d1 (㎜)D2 (㎜)Δd (㎜)λ(Α)λ1 2 3 (二)測量鈉光雙線光譜的間距Δλ1.繼續同方向的轉動M2微調鈕,使反射鏡前移,尋找一個干涉紋襯度最小的位置,記錄M2的起使位置d1於表4.2中。2.繼續同方向的轉動M2微調鈕,連續尋找16次干涉紋襯度最小的位置,並記錄每次M2的位置d#於表二中。3.表4.2項次位 置(㎜)項次位 置(㎜)Δd(㎜)Δd1 9 2 10 3 11 4 12 5 13 6 14 7 15 8 16 4.計算:(1)將Δdk=∣dk+8-dk∣ 及其平均值Δdk 填於表二中。(2) 則干涉紋每次襯度淡化的距離為 δ=Δd k/8。 這就是雙線光譜,兩套干涉紋的拍差節距。(3) 將上述節距值帶入公式中,便可求得雙線光譜間距: Δλ=λ2/2δ=(5893A)2/2δ=_____________註:本實驗原理如下設雙線光譜中λ2λ1,λ2與λ1分別產生一套環形干涉條紋,若在兩反射鏡相距為e1時,λ2的第m1階干涉環紋出現,且這時兩套環形干涉條紋正巧發生在第n次的襯度淡化(及環形干涉條紋第n次重疊),則變數λ2,λ1,m1,e1及n相互之關係如下(m1+n+1/2)λ1=2e1m1λ2=2e2同理當兩反射鏡距離增加到e2時,干涉紋(n+1)次的襯度淡化發生,各變數間的關係如下列公式(m2+n+3/2)λ1=2e2m2λ2=2e2由上列的式子可得(m2-m1)λ2=2(e2-e1)=2δ(m2-m1+1)λ1=2(e2-e1)=2δ由上式解聯立方程式即可得: λ2-λ1=λ1λ2/2δΔλ=λ22/2δ五、問題請討論實驗時旋轉前進或後退的精確度需要多少才能看到干涉條紋的變化? 實驗中有那些因子會影響實驗結果?請一一列出,並估計其影響。試分析本實驗的誤差?(請參閱參考報告對本實驗相關問題作思考,以增加對實驗的了解及深度探索。)六、參考資料 (一)E. Hecht, ‘Optics,’ 2nd.ed. (Addison-Wesley, 1987), chapter 9 and 12 (二)M. Born and E. Wolf, ‘Principle of Optics’, 7th. ed.(Cambridge, 1999) chapter 7 (三)M. V. Klen and T. E. Furtak, ‘Optics,’ 2nd.ed.(Wiley, 1986) chapter 5 and 8 (四)F. L. Pedrotti, S. T. and L. S. Pedrotti, ‘Introduction to Optics,’ (Prentice, 1993), chapter 10, 11 and 12七、參考報告 (一): 本份報告僅供參考(取自於物理90級邵華潔 吳柏毅 溫柄閎 曾至國 鄭恪亭一組)(一)實驗裝置:(二)原理:2(l2-l1)cosθ=mλ,當增大l2的長度時,某一θ位置的m會跟著增加,這情形如同從中央生出干涉條紋,當減低l2的長度時,某一θ位置的m會跟著減少,這情形如同干涉
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