按按键屏幕显示波特率9600数据位为8位校验奇偶极性为无.DOCVIP

广泛的测量对象： 无源元件：电容，电感，电阻，磁心，变压器，芯片组件，网络元件等阻抗参数测量。 半导体元件：变容二极管的C-VDC特性，晶体管或集成电路的寄生参数分析。 其他元件：PCB，继电器，开关，电缆，电池等的阻抗评估。 介质材料：塑料，陶瓷和其他材料的介电常数和损耗角评估。 磁性材料：铁氧体，非晶体和其他磁性材料的导磁率和损耗角评估。 半导体材料：半导体材料的介电常数，导电率和C-V特性。 液晶材料：液晶单元的介电常数，弹性常数等C-V特性。 可测出整个电路的各项等效参数，相当于Q表来使用。测量数据对研发有参考价值。比如调整谐振滤波电路中的L,C,R参数，可使调谐滤波电路达到匹配，得到理想的滤波效果。 ——Fluke RCL 全剖析 一．按键＆接口 【LOCAL】 从远程控制切换到面板操作，正在通信时请不要按此键，以免通信发生错误。 【INTERFACE】 通过IEEE-488或RS-232接口进行远程控制仪器时的参数设置。 [AUTO]自动测量模式 屏幕上显示首项和第二项参数，串/并联等效电路。 [SER/PARA]选择串联或并联测试模式 并联模式（Lp、Cp）采用恒压方式测量；而串联模式（Ls、Cs）采用恒流方式测量。测量时显示等效电路图为单个元器件，如，则该元件呈纯阻抗性。见英文说明书P95【这是FLUKE独有的功能】 通过推导证明，对于不同的损耗因数（D）值，用串联方式测出的值与用并联测得的有差别。但当值小于0.03时，串联与并联测得的值相等。 ? [AVERAGE] 增大平均时间指数以减小测量数值波动。再次按此键，显示初始设置的平均时间指数。有三个平均时间等级可选，或关闭不用此功能。见说明书P85 连续测量时测量速度可达10次/秒，也就是平均100ms就能测量一次，但由于被测元器件不是理想元器件，测量条件等原因，仪器识别元器件的时间超过100ms，即在100ms内测量读数跳动，不能稳定下来，增大测量时间，即减慢测量速度，可获得较为准确的测量值。 这平均时间指数跟其他电桥，如安捷伦Agilent，日置HIOKI及国产的同惠提供的三种测量时间模式（FAST，NORMAL，SLOW ）原理一样，且这些电桥的具体测量速度指标都给出，而福禄克电桥说明书没有提及；【另外，上述的电桥还有测量次数平均值功能,而福禄克FLUKE电桥不具备此功能。】 exponential averaging in continuous mode of the displayed measuring values with increased time constant. 平均指数是在连续模式下显示测量值时所需增加的时间常数。 【RCL POSITION】选择阻抗或容感抗作为首项显示。当选择了该设置，第二行测量值前显示“DOMINANT”，即元件的标称值。 【DEVIATION SET REF】 设置测量值偏差，AUTO→ DEV→按旋钮选择偏差值→再按一次DEV。 【BIN SORT】元件分级。具体见后面介绍。 显*号表明测量数值超出基本精度。 [/Z]相角/阻抗（复合阻抗）。 在理想状态下，相角(θ)在纯电阻下是0°，在纯电容下是-90°，纯电感则为+90°。在测量时，出现一个负的电抗值，为呈容抗的元件。 [Q/D] 显示品质因数/损耗因数。 电导G=1/R电阻，电纳B=1/X电抗，导纳Y=1/Z阻抗。Z=R+jX，Y=G+jB。 [Vx/Ix] 加在测量元件上的电压/电流。 [HI LEVEL/ NORMAL /LOW LEVEL]测试信号源 高电平交流有效值（方均根植）2V或直流2V，400欧的内阻。常用电平交流有效值（方均根植）1V或直流1V，内阻100欧。低电平交流有效值（方均根植）50mV或直流300mV，内阻100欧。PM6304只可选这三个等级的测试电平，对应于PM6306的AC 50mV-2V测试信号源。 [FRQ] 选择50Hz-1MHz测试信号频率。小电容200pF～2nF、小电感200μH～2mH常用于高频电路?(测量时频率要高一点，比如100KHZ)。简单说，高频电路就是接收或发射信号那一部分电路；大电容200μF～2000μF、大电感200H～2000H常用于低频电路?(如市电50Hz经全波整流后100Hz，则测量频点可选在100HZ)。 [INT EXT OFF] 选择内部0V-10V直流偏压；或外部直流偏压（最大DC40V）。不加直流偏置时按OFF。 【DC AC】DC选择50mV-2V直流测试