X-射线衍射 中国学技大学化学院.ppt

中国科学技术大学化学院 实验教学中心 二. 测角系统： 衍射仪中聚焦原理的实现，它不是直接按 实现的。在前图中，各衍射线的位置和试样间的距离随衍射角的不同而异，而在实际的衍射仪的测角仪中，则如图2.7所示。检测器的接收狭缝J与样品中心的距离是固定的，这只有当符合条件：r = R／(2 sinθ) 时，衍射角为θ的衍射线才能聚焦在J处，进入接收狭缝。实际上这很难做到，但是当R取值较大并且限制光束的发散角α不太大时，可以用平的试样表面代替弯的表面。 图 卧式测角仪 立式测角仪 三 滤波装置： 滤波片 平晶单色器 单色器 弯晶单色器 Kβ线的存在会给分析衍射花样带来困难，需要滤掉Kβ。利用元素的吸收限，可以制成滤波片。如图： 但滤波片不能滤掉连续光谱和荧光，在某些场合必须用单色器。 晶体单色器对X射线的单色化作用是通过布Braag衍射来实现的。如图： 四.测角仪光路上狭缝系统： 1.梭拉狭缝是用来 限制X光垂直发散度。 2.散射狭缝式用来限制样品表面初级射线水平发散度。 3.接收狭缝用来限制所接收的衍射光束的宽度。 五 检测器 （1）正比计数管（PC） 在使用正比计数管时，两电极间需要加上1000至2000伏的直流高压。计数管在被X射线照射时，管内气体被电离，初始产生的离子对数目与X射线的量子能量成比例，在极间电压的作用下，离子定向运动并在运动过程中不断碰撞其它的中性气体分子，由此产生二次以至多次的电离并伴随着光电效应，此时电离的数目大量增殖从而形成放电。因此，每当有一个X射线量子进入计数管时，两极间将有一脉冲电流通过 （2) NaI(Tl)闪烁计数管(SC） 每个入射X射线量子将使晶体产生一次闪烁，每次闪烁将激发倍增管光电阴极产生光电子，这些一次光电子被第一级打拿极（D1）收集 并激发出更多的二次电子，再被下一级打拿极（D2）收集，又倍增出更多的电子。从而形成可检测的电脉冲信号。 （3)固体检测器(SSD)　　 当X射线照射半导体时，由于射线量子的电离作用，能产生一些电子-空穴对.在本征区产生的电子-空穴对在电极间的电场作用下，电子集中在n区，空穴则聚集在p区，其结果将有一股小脉冲电流向外电路输出。 （4）超能探测器： X’Celerator超能探测器，半导体阵列探测器，内置100多个微 型探测器，探测器录谱效率以及强度提高100倍(相当于220KW 的能力铜靶对)，分辨率保持很高。 六 样品的制备 对于样品的准备工作，必须有足够的重视。常常由于急于要看到衍射图，或舍不得花必要的功夫而马虎地准备样品，这样常会给实验数据带入显著的误差甚至无法解释，造成混乱。下图示出了一个由于制样方法不当而得不到正确的衍射图的例子。 制样一般包括两个步骤： 首先，需把样品研磨成适合衍射 实验用的粉末；然后，把样品粉 末制成有一个十分平整平面的 试片。 如图： 任何一种粉末衍射技术都要求样品是十分细小的粉末颗粒，使试样在受光照的体积中有足够多数目的晶粒。因为只有这样，才能满足获得正确的粉末衍射图谱数据的条件：即试样受光照体积中晶粒的取向是完全机遇的。粉末衍射仪要求样品试片的表面是十分平整的平面。 七 衍射仪结构： 光管 样品台 单色器 探测器 八 测量与数据处理系统： * * 张万群 X射线衍射 一. X射线发展史： 1895年德国物理学家伦琴在研究阴极射线时发现了X射线（1901年获得首届诺贝尔奖） 1912年，德国的Laue第一次成功地进行X射线通过晶体发生衍射的实验，验证了晶体的点阵结构理论。并确定了著名的晶体衍射劳埃方程式。从而形成了一门新的学科—X射线衍射晶体学。 （1914年获得诺贝尔奖） 1913年，英国Bragg导出X射线晶体结构分析的基本公式，既著名的布拉格公式。并测定了NaCl的晶体结构。（ 1915年获得诺贝尔奖) 此外，巴克拉（1917年，发现元素的标识X射线），塞格巴恩（1924年，X射线光谱学），德拜，（1936年），马勒（1946年），柯马克（1979年），等人由于在X射线及其应用方面研究而获得化学，生理，物理诺贝尔奖。有机化学家豪普物曼和卡尔勒在50年代后建立了应用X射线分析的以直接法测定晶体结构的纯数学理论，特别对研究大分子生物物质结构方面起了重要推