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- 2018-08-13 发布于江苏
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位错的观测
位错的观测 一.浸蚀坑法 位错周围有点阵畸变,能量高,在相应化学浸蚀时出现浸蚀坑,原理如图。? 试验观察的试样 (111)面零散位错,呈三角形; (100)面零散位错,呈圆形、椭圆形; 位错塞积(排) 小角晶界 层错线 空位及空位团 星形结构,宏观(肉眼)观察呈星形,微观观察呈空位团。 二、电子显微镜观察 1、直接观察 高分辨率电子显微镜 (透射电镜)的分辨率 已达到小于0.2nm,所 以可用电子显微镜直接 观察金属中的位错。 2.衍衬法 高速电子束透过金属薄膜(?100-500nm)时,要发生衍射。 电子显微镜成像时,物镜光阑基本上把衍射部分挡住,使它不能成像。成像的亮度决定于透射电子束的强度。 当晶体中有位错等缺陷存在时,电子束通过位错畸变区可产生较大的衍射,使透射束较其余区域弱,所以位错在成像中表现为黑色线条。 薄膜厚约200nm,位错从薄膜的顶部一直延伸到底部。 两组位错,每个位错产生一条黑线,线的宽度一般为10nm,比实际位错要宽。 衍衬法的优点:试样制备容易;分辨率约1.5nm已足够;观察视域大,看到的范围广;还可用于观察变形时的位错运动及它们的交互作用等。 缺点:看不出位错的微观结构。 * * 投影图 位错分布图
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