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一种介质损耗测量新方法的研究 　　摘要：基于传统介质损耗tanδ测量法在抗干扰能力上存在的不足，将注入信号法应用于介质损耗测量中。详细介绍了注入信号法的基本原理以及对工频干扰的有效抑制方法，同时通过系统硬件误差自校正的分析，消除了测量装置本身带来的传输通道延时误差。仿真结果表明该方法能够有效削弱电网工频的干扰，并能消除测量装置的固有测量误差，使介质损耗因数测量的精确度和抗干扰能力显著提高。 　　关键词：介质损耗因数；注入信号；误差自校正；绝缘在线监测 　　作者简介：董锐（1970-），男，河南郑州人，郑州供电公司配电服务中心，高级工程师；郭立（1984-），男，河南郑州人，郑州供电公司配电服务中心，助理工程师。（河南#8194;郑州#8194;450000） 　　中图分类号：TM74#8195;#8195;#8195;#8195;#8195;文献标识码：A#8195;#8195;#8195;#8195;#8195;文章编号：1007-0079（2011）18-0115-02 　　 　　近年来，超高压电网甚至特高压电网相继投入使用，对高压电力设备的安全可靠性提出了更高的要求。经研究表明，高压电力设备绝缘性能的降低甚至失效是导致其故障的最主要原因。[1-4]对于高压设备的绝缘状态，介质损耗（tanδ）是主要参数，[5-7]它能宏观地评价绝缘基本状态。因此在绝缘在线监测中，tanδ的实时、准确测量具有重要意义。 　　目前，tanδ在线监测技术在处理和分析所测信号时，有两种实现手段：一种靠硬件实现，如过零比较法、[8]过零点电压比较法[9]和双极性过零比较法，[10]另一种靠软件实现，如Fourier分析法[11]和谐波分析法。[12]而以上方法在抗干扰能力上均存在一定的不足。比如过零比较法易受硬件和外界工频强电场的同频干扰，双极性过零比较法虽然消除了硬件的零点漂移误差，但对通道传输延时不一致和强工频干扰则无法处理。 　　本文基于注入信号技术，通过产生异于工频50Hz的注入信号，利用现场可编程门阵列（FPGA）进行数据检测，采用100MHz的高精度晶振对相位差计数，通过同时检测正向过零和负向过零的相位差及动态平均法达到减小零点漂移的目的，最终实现了高精度的tanδ在线测量方法。 　　一、注入信号法测量原理 　　注入信号法的测量原理如图1所示，将控制系统产生的可变频信号通过电源回路输入至试验电源中，对由此生成的高压电源进行介质损耗测量，并将测量后的数据发送到选择开关处，与原可变频信号进行对比，供测量控制系统进行误差校正，使其达到最大精度。 　　1.注入信号的产生 　　在介质测量系统中，注入信号是由MCS96系列的P8090单片机和FPGA共同产生的。 　　注入信号频率按高精度晶振转换为对应的方波信号，并经数据总线传送之FPGA。FPGA再将此方波信号经过信号调整回路后，分为两路。其中一路进行介质损耗测量，另一路信号为测量系统提供误差自校正信号。 　　消除工频同频干扰是注入信号法成功应用的关键。在此，将注入信号通过中压互感器加入到220V工频中压中，并升压至2kV~10kV，从而生成带有注入信号的高压试验电源。 　　2.消除同频干扰 　　在介质损耗测量时，由于高压试验电源与产生干扰的信号（电网）属于同一个供电网路，即二者的频率相同。因此，在介质损耗过程中，高压试验电源会受到较为严重的同频信号干扰，使测量结果产生一定的误差。 　　为了遏制工频干扰严重影响到测量现场，一方面可以采取有效的滤波，另一方面可以采用注入信号的方式，也能取得良好的效果。在测量装置中产生的可变频信号中选择频率为50Hz左右的信号作为注入信号，并通过电压互感器耦合到试验电源中，运用滤波技术滤除50Hz左右之外的其他频率，通过相位差检测，用双极性过零比较法求出各频率下的介质损耗值。由于注入信号和工频信号的频率不同，所以可达到抑制电网工频同频干扰的目的。 　　3.误差自校正系统 　　造成测量装置的硬件误差原因主要有：两路传输通道存在的传输延时性差异和过零点比较器产生的零点漂移。为了消除硬件装置的误差，提高装置的测量准确性，武汉大学的严玉婷等人提出了过零点中压比较法和双极性过零比较法等。但是这些方法主要是降低零点漂移误差，而传输通道的延时误差并没有有效解决。 　　本文采用注入信号法来解决传输通道存在的延时误差问题，对系统进行校正，当改变注入信号频率或每隔一定时间系统开始误差自校正时，用FPGA产生的信号来代替原有的测量信号进行介损测量，然后用FPGA计算出注入信号经过不同通道后产生的相位差，设该相位差为ns，将ns存储到CPU中后，恢复原测量信号进行介损测量，从而得到优化后的tanδ。 　　介质损耗因数的计算公式为： 　　（1）