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SPC(Statistical Process Control)统计过程控制 引入两个概念 SPC常用术语解释 中心极限定理 中心极限定理实例验证 认识正态分布 控制图原理--3Sigma原则 当质量特性的随机变量x服从正态分布时，则x落在μ±3 σ的概率是99.73%。 根据小概率事件可以“忽略”的原则：如果出现超出μ±3 σ范围的x值，则认为过程存在异常。 一组重要的统计概念 极差（R)，组距 标准差σ （Sigma) 标准差 总体标准差 = 样本标准差 = 通常用样本标准差近似的估计为总体标准差 标准差的意义：一组数中各单个值与总体平均数之间的平均离差，说明改组数的离散程度 SPC判读原则 收集数据应注意注明‘人机料法环境测’，便于分析 过程失控判断 －红点表示有过程不受控，什么原因造成成的？怎么分析？ 原因分析（检验员分析） SPC在我公司的应用 －只需录入数据，系统自动报异 SPC在我公司的应用 －对关键质量特性日常数据采集进行监控 哪些情况下可做SPC？ 客户要求的关键尺寸（供应链、GE） 过程中的关键质量特性（开关门力） 重点岗位（前工序漏水分析、外观件缺陷分析等） 过程能力 过程能力是指过程处于受控状态下（不存在变差的特殊原因）的实际加工能力 一个稳定过程的固有变差的总范围 过程能力是由造成变差的普通原因造成 工序能力高时：产品品质出现异常的几率越小 工序能力低时：产品品质出现异常的几率越大 过程能力指数（Cp) 过程能力用过程能力指数来加以量化 Cpk值的判定原则 公差界限与控制界限的区别 公差界限： 区分合格品与不合格品 控制界限： 区分正常波动与异常波动 控制图类型 计算控制限 首先计算极差的控制限，再计算均值的控制限 。 2-1 计算平均极差（R）及过程均值（X） R=（R1+R2+…+Rk）/ k（K表示子组数量） X =（X1+X2+…+Xk）/ k 2-2 计算控制限 计算控制限是为了显示仅存在变差的普通原因时子组的均 值和极差的变化和范围。控制限是由子组的样本容量以及反 映在极差上的子组内的变差的量来决定的。 计算公式： UCLx=X+ A2R UCLR=D4R LCLx=X - A2R LCLR=D3R 接上页 注：式中A2,D3,D4为常系数，决定于子组样本容量。其系数值 见下表 ： 3-1 分析极差图上的数据点 3-1-1 超出控制限的点 ???a 出现一个或多个点超出任何控制限是该点处于失控状态的主要 证据，应分析。 ??b 超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种： b.1 控制限计算错误或描点时描错 b.2 零件间的变化性或分布的宽度已增大(即变坏） b.3 测量系统变化（如：不同的检验员或量具） ??? c 有一点位于控制限之下，说明存在下列情况的一种或多种 c.1 控制限或描点时描错 c.2 分布的宽度变小（变好） c.3 测量系统已改变（包括数据编辑或变换） 课后作业: 计算控制线并制作Xbar －R图（可用相关软件） 8-4 单位不合格（缺陷）数的u图 8-4-1 使用的时机 u图用来测量具有不同的样本（受检材料的量不同）的子组 内每检验单位产品之内的不合格数量（可以用不良率表示）. 8-4-2 数据的收集 8-4-2-1 各子组样本容量彼此不必都相同，尽量使它的容量在其平 均值的正负担过重25%以内，可以简化控制限的计算. 8-4-2-2 记录并描绘每个子组内的单位产品不合格数（u） u=c / n 式中: C为发现的不合格数量，n为子组中样本的容量。C和n都应 记录在数据表中。 8-4-3 计算控制