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SPC统计过程控制(SPC统计量介绍与判定标准) 常用统计量 常用统计量 计算公式 计算公式 计算公式 计算公式 计算公式 计算公式 计算公式 计算公式 计算公式 计算公式 计算公式 计算公式 计算公式 计算公式 计算公式 计算公式 SPC 判定标准 SPC 判定标准 SPC 判定标准 SPC 判定标准 SPC 判定标准 SPC 判定标准 SPC 判定标准 SPC 判定标准 SPC 判定标准 SPC 判定标准 SPC 判定标准 Mean:(平均值) Max:(最大值) Min:(最小值) Range:(Max－ Min最大跨距) StdDev标准差 Cp:(过程能力指数) Cr:(过程能力比值 ) k:(偏移系数 ) Cpu:(上限过程能力指数 ) Cpl:(下限过程能力指数 ) Cpk:(过程能力指数 ) Cpm:(目标能力指数) Zu(Cap) :(规格上限SIGMA水平) Zl(Cap) :(规格下限SIGMA水平) Fpu(Cap): (超出规格上限机率) Fpl(Cap):(超出规格下限机率) Fp(Cap):(超出规格限的机率) Pp:(过程性能指数 ) Pr:(过程性能比值 ) Ppu:(上限过程性能指数 ) Ppl:(下限过程性能指数 ) Ppk:(过程性能指数 ) Ppm:(目标过程性能指数) Zu(Perf):(规格上限SIGMA水平) Zl(Perf):(规格上限SIGMA水平) Fpu(Perf):(超出规格上限机率) Fpl(Perf):(超出规格下限机率) Fp(Perf): (超出规格界线的机率) Skewness:(偏度) Kurtosis:(峰度) 2、Max最大值 3、Min最小值 4、Range最大跨距 1、Mean均值 例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Mean=(2+4+6+4)/4=4 例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Max(2,4,6,4)=6 例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Min(2,4,6,4)=2 例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Range(2,4,6,4)=6-2=4 6、Cp:(过程能力指数) 7、Cr:(过程能力比值 ) 5、StdDev标准差 例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求 例:产品规格为(40±0.5),产品标准差为0.4,试计算CP CP=(40.5-39.5)/(6*0.4)=1/2.4=0.42 例:产品规格为(40±0.5),产品标准差为0.4,试计算Cr Cr=(6*0.4)/(40.5-39.5)=2.4 8、k:(偏移系数 ) 例:产品规格为(40±0.5),产品均值为40.2,试计算K K=(40.2-40))/((40.5-39.5)/2)=0.4 评价产品检验结果偏离规格中心程度的质量指标! 规格中心M 产品均值μ 规格宽度T K越大说明产品均值偏离中心值越远; 规格下限LSL 产品均值μ 规格上限USL 所有检验数据形成一个数据分布,而用 可以衡量数据分布离散的大小; 越小分布越好,数据越集中 9、Cpu:(上限过程能力指数 ) 例:产品规格为(40±0.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpu; Cpu =(40.5-40.2))/(0.4*3)=0.3/1.2=0.25 ※Cpu越大,产品检验数据超出上限的概率就越小,也就是说产品超出上限的不合格品数量就越少; 10、Cpl:(下限过程能力指数 ) 例:产品规格为(40±0.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpl; Cpl =(40.2-39.5))/(0.4*3)=0.7/1.2=0.58 规格下限LSL 产品均值μ 规格上限USL 所有检验数据形成一个数据分布,而用 可以衡量数据分布离散的大小; 越小分布越好,数据越集中 ※Cpl越大,产品检验数据超出下限的概率就越小,也就是说产品超出下限的不合格品数量就越少; 12、Cpm:(目标能力指数) 11、Cpk:(修正的过程能力指数 ) Cpk=Min（Cpl，Cpu）=Cp(1-k) 例:产品规格为(40±0.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpk; Cpk =Min(0.25,0.58)=0.25 或Cpk =0.42*(1-0.4)=0.25 例:产品规格为(40±0.5),目标值为40.2,产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpm; Cpm=1/2.4=0.42 产品均值μ 规格上限USL 13、Zu(Cap) :(规格上限SIGMA水平) Zu(Cap)表示产品均值离 规格上限有多少倍标准差? 也表示为几个SIGMA 产品均值μ 规格上限USL Zl(Cap)表示产品