02金能-左会胜-降低极耳跟包装膜短路率.ppt

* 降低一封极耳与包装膜短路率 实施单位：TCL金能电池有限公司 实施时间：2007年5月~2007年10月 * 公司名称 TCL金能电池有限公司 项目编号 项目名称 降低一封短路率 项目组组长 左会胜 项目类型 ■ DMAIC □ BB □ DMADV ■ GB 牵头部门 质量管理部 涉及流程 点焊后短路—包装-短路测试 涉及产品 聚合物锂离子电芯 项目成员 左会胜、周华成、赖尚华、胡亚文、李丹 6σ项目立项注册表 区 分 姓 名 意 见 倡 导 者 王海波 主 黑 带 黄 轶 财务确认 涂志浩 发 起 人 王海波 黑 带/绿带 左会胜 2. 基线与目标 1. 基本信息 CTQ/y 单位 现水平 目标水平 先进水平 JB短路率 ppm 175 80 / 3.效果预算 项目 投入 项目 效益 降低一封短路率 14500 / 4.日程计划 D 5.21~6.1 M 6.2~6.18 A 6.19~7.18 I/D 7.19~8.18 C/V 8.19~9.5 5.现状描述: 07年2月~4月，热封工序极耳与包装膜短路（以下简称JB短路）比例达175PPm， JB短路是导致电芯漏液的最主要原因（占近40%），电芯漏液会引起客户强烈投诉，直接影响客户满意度、订单数量及未来的合作。 6.项目范围: 聚合物电芯极耳热封过程及包装后短路检测。 7.效果及影响: 一封短路率从175ppm降低到80ppm，促使电芯漏液不良率降低38ppm，这不仅满足了公司高端客户的要求。而且为公司与国际一流客户的合作提供了一项重要的保证。 * 项目背景 选择项目的理由 A M I C D 2、FEA计算： 潜在的影响无法估算 通过分析2-4月份漏液电芯发现，导致电芯漏液的最主要因素是JB短路，JB短路导致电芯漏液占总体漏液的39.6%。因此，要降低电芯漏液率必须降低JB短路率 * 高级流程图（SIPOC）分析 A M I C D 组装工序 包好的半成品电芯 包装膜热封机 热封上下模具 硅胶板 灵敏测试仪 Supplier Input Process Output Customer 一封半成品电芯 注液工序 封极耳边SOP 极耳与包装膜短路检测SIP 极耳封边热封参数 (气缸压力，模具温度，时间) PE IE QE 取半成品电芯 踩气动按钮 上下模压合 放入包装膜叠好 上模下移 记时 上模上移 从下模腔夹出电芯 极耳热封 及 短路检测 侧边热封 包装后短路测试 * VOC/VOB/CTQ分析 A M I C D 客户 VOC/VOB 驱动因素 CTQ 外部客户 内部客户 生产三课 PMC OQC 电芯气胀、漏液属于严重品质不良，中高端客户接受此不良低于50PPM（甚至达0PPM）,超过此值则批退. 热封短路不良致使预充无电压，电芯下线后漏液、气胀，降低了收成率，提高了返工及MRB评审次数； 同时影响产品的交付时间，降低了及时交付率。 提高热封工序流程能力 JB电阻 CTQ 缺陷定义：极耳与包装膜短路：负极金属镍带与包装膜铝层接触内阻小于2000Ω称为极耳与包 装膜短路，简称包装膜短路；又称JB短路。 * A M I C D 变量分析（树形图 ） ＪＢ短路 过熔 极耳胶高／低 温度 时间 压力 封边宽度 铜模宽度 硅胶板宽度 测量系统 测量系统 输出压力 结论：通过团队成员的分析认为温度的测量系统、压力测量系统、输出压力、封边宽度、 铜模宽度、硅胶板宽度为主要影响因子,通过对前期收集的210个JB短路电芯统计发现,有153只电芯是极耳胶过熔导致,占72.9%.因此,后续主要针对极耳胶过熔进行改善。 * A M I C D 数据收集计划 数据 数据类型 测量仪器 相关条件记录 抽样方法 收集人 Y 按产品型号 计数型 灵敏测试仪 PQC报表 全检 李丹 按生产时间 计数型 PQC报表 全检 李丹 X 热封压力 计量型 压力测试仪 PQC报表 全检 杨子龙 * A M I C D Gage RR （JB短路） 所有检验员与标准 评估一致性 95 % # 检验数 # 相符数 百分比 置信区间 30 28 93.33 (77.93, 99.18) # 相符数: 所有检验员的评估与已知的标准一致。 Fleiss Kappa 统计量 响应 Kappa Kappa 标准误 Z P(与 0 ) NG 0.926160 0.0745356 12.4257 0.0000 OK 0.926160 0.0745356 12.4