核分析的技术-3.pptxVIP

核分析基础 成都理工大学 核自学院 第五章 X射线荧光分析 从1895年伦琴(Roentegn)发现X射线以来，对X射线的产生、它的特性，它与物质的相互作用，以及它的应用，进行了极为广泛深入的研究。 X射线激发元素时发射特征X射线的发现，奠定了X荧光光谱作为元素成分分析的基础，它早已成为实验室和工矿企业中元素分析的常规分析手段。 第五章 X射线荧光分析 随着激发源和探测技术的研究进展，X射线分析已经从原有的用X光管、放射源激发的K层荧光分析，发展到70年代开始用带电粒子激发的X射线分析，最近又发展了同步辐射X荧光分析； 从用晶体和正比计数器等测量X射线，发展到用半导体探测器测量X射线。 第五章 X射线荧光分析 质子激发的X射线分析已成为一种高灵敏度，非破坏性、多元素定量分析的重要工具，在生物医学、环境保护、考古学等许多研究领域中非常有用。 微束技术的发展，已能使用直径达到微米级的质子束进行扫描分析，得到样品中元素的空间分布，甚至可以窥测一个细胞中诸元素的分布。 第五章 X射线荧光分析 X射线的本质与特点 X射线是波长极短的电磁波。波长在10－9～10－7cm。 第五章 X射线荧光分析 X射线的本质与特点 X射线是波长极短的电磁波。波长在10－9～10－7cm。 10Å = 1nm = 10-6mm = 10-9m XRF 分析的能量范围（波长范围）: E = 0.11 - 60 keV  = 11.3 - 0.02 nm 元素范围从铍 (Be)到铀 (U) 能量范围 [keV] 波长范围 电磁辐射类型 10-7 cm to km 无线电波 10-3 μm to cm 微波 10-3 μm to mm 红外 0.0017 - 0.0033 380 to 750 nm 可见光 0.0033 - 0.1 10 to 380 nm 紫外 0.11 - 100 0.01 to 11.3 nm X 射线 10 - 5000 0.0002 to 0.12 nm γ射线 第五章 X射线荧光分析 X射线的本质与特点 具有波——粒二象性。 E=h  ,  =c /  光速、反射、折射、偏振、相干散射 波动性 微粒性 能量、电离、光电吸收、非相干散射 波长单位：10－10m 能量单位：eV 第五章 X射线荧光分析 X射线的产生 1895年，德国物理学家伦琴在研究稀薄气体的放电现象时，发现了一种未知的射线，当时伦琴称之为X射线。 X射线 阳极 阴极 电子 高压 灯丝电压 第五章 X射线荧光分析 X射线的产生 连续谱线（韧致辐射） 入射电子 电子层 阳极材料的原子 射出X射线 原子核 出射电子 (减速和改变方向) 第五章 X射线荧光分析 X射线的产生 阳极可由不同的材料组成，通常由Mo、W等材料组成。Mo靶产生主要为17.48KeV的X射线， W靶产生主要为59.31KeV的X射线。 第五章 X射线荧光分析 X射线的产生—特征谱线 两步： 1)入射粒子与原子发生碰撞，从中逐出一个内层电子，此时原子处于受激状态。 2)随后(10-12～10-14s)，原子内层电子重新配位，即原子中的内层电子空位由较外层电子补充，两个壳层之间电子的能量差，就以X射线荧光的形式释放出来。 第五章 X射线荧光分析 X射线的产生——特征谱线 入射射线轰击原子的内层电子，如 果能量大于它的吸收限，该内层电子 被驱逐出整个原子（整个原子处于高 能态，即激发态）。 较高能级的电子跃迁、补充空穴，整 个原子回到低能态，即基态。 由高能态转化为低能态，释放能量。 ΔE=Eh-El 能量以X射线释放，产生X射线荧光。 第五章 X射线荧光分析 X射线的产生——特征谱线 会产生特征谱线的元素 第五章 X射线荧光分析 X谱线系的产生——K系 EEKab（K层电子的吸收限）：产生K层电子空穴，外层电子填充并释放能量。 Kα；Kβ 第五章 X射线荧光分析 X谱线系的产生——L系 EELab（L层电子的吸收限）：产生L层电子空穴，外层电子填充并释放能量。 Lα；Lβ；Lγ 第五章 X射线荧光分析 X谱线系的相对强度 K系线和L系线之间没有特定的比例关系，K系线的强度一般比L系线的强度高一个 数量级以上。 谱线 相对强度 谱线 相对强度 Kα1 100 Lα1 100 Kα2 50 Lβ1 75 Kα1，2 150 Lβ2 30 Kβ 20 Lβ3 5 不同线系X射线的强度比K：L：M＝100：10：1 第五章 X射线荧光分析 电子排布及能态的量子描述 符号 名称 意义 允许值 选择定则 n 主量子数 表示电子层和电子的能量 1, 2, 3, … , n K, L, M,… Δn0 l 角量子数 表示轨道角动量，决定轨道形状