在非对称规格下弱能指标Cpp贝氏估计.pdfVIP

管理科學研究 2007第二屆管理與決策學術研討會特刊 第 97-110頁 在非對稱規格下弱度能力指標 C 的貝氏估計 pp Bayesian Estimations of Incapability Index under Asymmetric Specifications 曾信超 1 許淑卿 2 郭信霖 3 摘要 製程能力指標是常用來評估製造產業的能力，提供測量製程績效重要的量測方法； 而傳統方法大部分是從頻率學派的觀點得到。在本文我們以貝氏方法(Bayes Approach) 分別針對非情報事前分配(non-informative prior) 、共軛事前分配(Conjugate Prior)與韋伯 故障率函數 (Weibull Hazard Function)求其有關弱度能力指標的點估計與在一般情形下 μ≠T的 100×p %的信用區間。依據貝氏的方法，我們需先確定一個有關參數適當的事前 分配，以得到其事後分配；並且在平方誤差損失函數(Squared-Error Loss Function)下， 製程能力指標之事後機率的期望值就是其貝氏估計。 關鍵字：弱度能力指標、信用區間、非情報事前分配、共軛事前分配、韋伯故障率函數 Abstract Process capability indices are used to measure on whether a manufacturing process meet a set of requirement preset in the workshop, which designed to quantify the relation between the actual performance of the process and its specified requirement. In this paper we consider the problem of estimations of indices C ( μ≠T ) under Bayesian framework. Several priors pp such as non-informative, conjugate prior and Weibull hazard function have been considered. Some estimates of hyper parameters are also studied. Some Bayesian estimators are derived and lower bound of the credible intervals under some conditions is also given. Keywords ：Incapability Indices; Credible Interval; Non-informative Prior; Conjugate Prior; Weibull Hazard Function 1. 前言 製程能力研究，在品質改善及提高生產力的評估與判定製程能力已日益普遍。 Caulcutt, R.( 2001 )指出目前已有許多美國公司，如 Motorola ，General Electric ( GE ) ， Black and Decker ，Bombardier 與 Minitab 等等，已廣泛運用製程指標，來評估製程能力 是否達到能力水準。 製程能力指標( PCI ) ，它不僅是種用來衡量製程符合規格的能力( Process Capability ) 與規格界限( Specification Limits )之間的關係，而且也是種結合製程參數( μ, σ)與製程規 1長榮大學經營管理研究所副教授 2 長榮大學經營管理研究所博士候選人/崇右技術學院國際貿易系講師 3 崇右技術學院會計資訊系副教授