基于图像处理石英晶片定位技术研究.docVIP

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基于图像处理石英晶片定位技术研究

基于图像处理石英晶片定位技术研究   摘 要: 为了实现自动测量石英晶片的频率等相关参数并进行分档,研究了石英晶片的图像定位技术,主要利用图像处理技术对采集的图像进行图像二值化、边缘检测、轮廓提取等处理,完成对石英晶片中心的定位。经验证,该石英晶片定位技术能够在保证系统要求的石英晶片分选速度的前提下实现石英晶片的准确定位。   关键词: 石英晶片; 定位技术; 图像处理; 自动分选   中图分类号: TN911.73?34 文献标识码: A 文章编号: 1004?373X(2015)01?0109?03   Abstract: In order to realize the automatic measurement and classification of quartz crystal frequency, and other related parameters, the quartz wafer positioning technology based on image processing is studied. The image binaryzation, edge detection and contour extraction for the acquired images are conducted by means of image processing technology to complete the positioning of the quartz wafer center. The verification result shows that the quartz wafer positioning technology can achieve accurate positioning of the quartz wafer under the premise of ensuring the system requirements of quartz wafer sorting speed.   Keywords: quartz wafer; positioning technology; image processing; automatic sorting   0 引 言   目前,数字类电子产品的应用越来越广,市场容量也越来越大,作为数字电子产品中必不可少的关键器件石英晶体谐振器(简称石英晶体)的市场需求量也急剧扩大。石英晶片是石英晶体振荡器的核心,对其封装外壳后即成为石英晶体振荡器。在石英晶片生产加工过程中,要经过切割、研磨等工艺过程,难免其中一部分石英晶片会产生一些外观缺陷,这些缺陷严重影响了石英晶片的性能[1]。目前,石英晶片主要依靠人工通过目视的方法进行检测,这种方法存在不但效率低而且检验结果易受人为因素影响等弊端[2]。因此,研究设计石英晶片的自动分选系统是非常必要的。   石英晶片定位系统的研究在石英晶片自动分选系统中占有非常重要的地位,是关键技术之一,直接影响到整个系统的后续工作能否实现。石英晶片的检测属于大规模检测,对检测速率的要求也较高[3]。因此,石英晶片自动分选系统的研究对于实现石英晶片的高效、高精度的自动化检测以及实现石英晶片的大规模工业化生产具有重要意义。   1 石英晶片定位分选系统总体设计   本系统的工作过程是通过摄像头对散于料盘上的石英晶片进行拍摄获取图像,并将石英晶片的图像采集到计算机中,利用图像处理技术对图像进行处理,计算出其外观尺寸和坐标;识别出其中一片石英晶片确定其中心坐标,找出最佳可取片的位置,通知散料盘旋转一定角度,将该晶片送至真空吸盘运行轨迹线上[4],并控制机械手准确移动到石英晶片的中心位置;机械手吸取该石英晶片并将其放置在测台中心,开始测量频率;测量完毕后,机械手吸取该石英晶片并将其放在相应档位的分料口中。   2 石英晶片定位原理   石英晶片定位系统运用数字图像处理技术对料盘上石英晶片群的图像进行处理分析计算,得到每个石英晶片的中心坐标。本系统包括图像采集模块和图像处理模块。系统通过摄像机并配以适当照明系统在石英晶片自动分选机上在线拍摄众多被检石英晶片的图像,经过USB口传入计算机;计算机对接收到的被测晶片图像进行分析及图像二值化、轮廓检测处理,完成对各个石英晶片的识别定位。   2.1 确定基准   对于系统经摄像头获取的图像首先要确定一片石英晶片作为基准,确定基准有两个作用:一个是确定石英晶片大致的周长和外接圆半径,为后面石英晶片的定位做准备。二是得到石英晶片的灰度值,这样可以为后面图像的二值化处理提供一个标准。用鼠标在图片上依次点五个点,A,B,C,D,A′,如图1所示,会产生四条线段,把四条线段

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