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基于高光谱成像技术草莓硬度预测 　　摘要：为对草莓硬度进行预测研究，利用高光谱成像系统获取草莓的高光谱数据，光谱数据波长为400～1 000nm，采用标准正态变换（SNV）、多元散射校正（MSC）、卷积平滑方法（SavitzkyGolay ）以及几种方法相结合对光谱数据进行预处理，选择最优的预处理方法，进一步结合化学计量学方法建立PLS预测模型，比较不同的光谱预处理方法对预测模型的效果，以选择最优预测模型。结果表明，经标准正态变换（SVN）处理后建立的偏最小二乘（PLS）模型效果最好，校正集和预测集的相关系数及均方根误差分别为0.989，0.882和0.021，0.073。因此，可采用高光谱成像技术对草莓硬度进行预测。 　　关键词：高光谱成像技术；草莓；硬度；无损检测 　　DOIDOI：10.11907/rjdk.172845 　　中图分类号：TP319 　　文献标识码：A文章编号文章编号2018）003018003 　　英文摘要Abstract：To predict the firmness of strawberry， hyperspectral data of strawberry were obtained by hyperspectral imaging system. The spectral data were wavelengths