现代分析化学技术-第一绪论2012.ppt

（1）揭开研究微观世界序幕的三大发现 1.显微镜技术 对于Z≤14的元素，采用KLL俄歇电子分析； 14Z42的元素，采用LMM俄歇电子较合适； Z42时，以采用MNN和MNO俄歇电子为佳。 （2）俄歇电子能谱的特征 Mo(110)面俄歇能谱 4. 紫外光电子能谱法(UPS) 以紫外光为激发源致样品光电离而获得的光电子能谱。 目前采用的光源为光子能量小于100eV的真空紫外光源(常用He、Ne等气体放电中的共振线)。这个能量范围的光子与X射线光子可以激发样品芯层电子不同，只能激发样品中原子、分子的外层价电子或固体的价带电子。 在紫外光电子能谱的能量分辨率下，分子转动能(Er)太小，不必考虑。而分子振动能(Ev)可达数百毫电子伏特(约0.05~0.5eV)，且分子振动周期约为10-13s，而光电离过程发生在10-16s的时间内，故分子的(高分辨率)紫外光电子能谱可以显示振动状态的精细结构。 CO的紫外光电子能谱 图为CO的紫外光电子能谱，在14eV、17eV和20eV处出现3个振动谱带，其中17eV的谱带清楚地显示了振动精细结构。 （1）光学显微镜 (a) 普通光学显微镜 原理：经物镜形成倒立实像，经目镜放大成虚像。 普通光线的波长为400~700nm，光镜分辨力约为0.2μm，人眼的分辨力为0.2mm，因此显微镜的最大有效倍数为1000X。 第七节 电子显微镜简介 （2）多晶粉末衍射分析(XRD) 在入射X光的作用下，原子中的电子构成多个X辐射源，以球面波向空间发射形成干涉光； 强度与原子类型、晶胞内原子位置有关； 衍射图：晶体化合物的“指纹”； 多晶粉末衍射法：测定立方晶系的晶体结构； 单色X射线源 样品台 检测器 X 射 线 晶体点阵的散射波可以相互干涉。 面中点阵 散射波干涉 面间点阵 散射波干涉 包括 和 入射角 掠射角 镜面反射方向 平面法线 入射 X射线 任一平面上的点阵 干涉结果总是在镜面反射方向上出现最大光强 称为该平面的零级衍射谱 任一平面上的点阵 入射 X射线 平面法线 镜面反射方向 Z X Y 用图示法作简易证明 A A B B C C C D B B A A ； C C C C A A C C A D ， 光程相等 即光程差为零 干涉得最大光强 X射线 入射角 掠射角 求出相邻晶面距离为 d 的两反射光相长干涉条件 层间两反射光的光程差 面间点阵散射波的干涉 布喇格定律 相长干涉得亮点的条件 或布喇格条件 3. 单晶衍射分析 四圆：?、?、?、2? ?圆：围绕安置晶体的轴旋转的圆； ?圆：安装测角头的垂直圆，测角头可在此圆上运动； ?圆：使垂直圆绕垂直轴转动的圆即晶体绕垂直轴转动的圆； 仪器：单晶法的对象是单晶样品，主要应用于测定单胞和空间群，还可测定反射强度，完成整个晶体结构的测定。所用仪器为X－射线四圆衍射仪或CCD X－射线面探测仪 能提供晶体内部三维空间的电子云密度分布，晶体中分子的立体构型、构像、化学键类型，键长、键角、分子间距离，配合物配位等。 1953年英国的威尔金斯、沃森和克里克利用X 射线的结构分析得到了遗传基因脱氧核糖核酸（DNA) 的双螺旋结构，荣获了1962 年度诺贝尔生物和医学奖。 NaCl 单晶的 X 射线衍射斑点 石英 (SiO2) 的 X 射线衍射斑点 3. X射线荧光光谱分析 X-射线光谱 X-射线荧光分析 X-射线吸收光谱 X-射线衍射分析 X-射线荧光分析 利用元素内层电子跃迁产生的荧光光谱，应用于元素的定性、定量分析；固体表面薄层成分分析； X-射线：波长0.001～50nm； X-射线的能量与原子轨道能级差的数量级相同； （1） X射线特征光谱 ?特征X射线 ?E = Eh - El = h? = hc/? X射线荧光光谱分析(XFS)和电子探计X射线显微分析（EPMA）都是以特征X射线作为信号的分析手段。 X射线荧光光谱分析的入射束是X射线，而电子探计X射线显微分析的入射束是电子束。二者的分析仪器都分为能谱仪（EDS）和波谱仪（WDS）两种。 （2）X射线荧光的工作原理 入射的X射线具有相对大的能量,该能量可以轰击出元素原子内层中的电子. K层空缺时,电子由L层跃迁入K层,辐射出的特征X射线称为 线;从M层跃迁入K层,辐射出的特征X射线称为 线.同理L系X射线也具有 等特征X射线.X射线荧光光谱法多采用K系L系荧光,其他线系较少采用 X光谱的X光子可以从很深的样品内部（500纳米～5微米）出射，因此它不仅是表面成分的反映，还包含样品内部的信息。 XFS适用于原子序数大于等于5 的元素，可以实现定性与定量的元素分