检查S50的扫描电子显微镜和FEI公司.PDF

产品数据 InspectTM S50 简单易用的主流扫描电镜可实现 快速准确的应答 简单易用的InspectTM S50 专为满足研究各类材料及表征材料结构和成分的主流需 求而设计，配备高稳定分辨率平台，可满足大多数研究的需要。Inspect 可提供 各类数据：将表面形貌和成分图像与元素分析结合，确定材料特性及其化学元素 组成。 当前的研究材料已不止是简单的金属和涂层样品，无论导电还是非导电样 品，Inspect S50 均可处理。对从金属、断口和抛光片等传统样品至非导电软材 料的表征方便快捷，最大限度提高研究人员的效率。用户界面简单、易学和灵 活，足以应对各种挑战。例如，标准导航功能包括样品台双击式移动和拖放变 TM 焦。SmartSCAN 技术采用智能扫描策略，可减少噪声，提供最优质的数据。该 仪器系列的设计源于显微镜工作者，并用于显微镜工作者，是一款真正不仅只 有 “易用性”的产品。 许多可用的功能有助定制Inspect F50 ，使其可实现特定的表征。诸如射束减速 主要优点 等其他新功能可将传统钨灯丝扫描电镜的低加速电压性能提升至全新的高度。 • 直观易用的软件可让新手高效操作 Nav-CamT M 彩色图像导航和新探测器令Inspect S50 具备更大的灵活性。 • 轻松表征导电和非导电样品 更优质的数据。更大的灵活性。更高的效率。Inspect S50 可实现快速简单的操 • 使样品制备量尽可能最少：低真空模式下可 对非导体样品进行无电荷成像和分析 作，迅速应答，实现更大投资价值。 • 在 “经由透镜抽气”专利技术产生的高真空 和低真空环境中对导电和非导电样品进行精 确的能谱(EDS) 和电子背散射(EBSD) 分析， 以提高分析能力。 • 稳定的高射束电流 （达到2 µA ）可实现快 速、准确的分析 • 使用可选的射束减速模式能进行表面成像， 以从导电样品中获取表面和成分信息 产品数据Inspect™ S50 典型的应用领域包括： NanoCharacterization （纳米级表征） • 电子束电流测量* • 金属及合金、氧化/腐蚀、断口、焊接点、抛光片、磁性和超 • 气体分析背散射电子探测器(GAD)* 导材料 • 扫描透射电镜(STEM) 探测器* • 陶瓷、复合材料、塑料 TM （用于样品导航的彩色光学相机）* • Nav-Cam • 薄膜/涂层 • 阴极发光* • 地质切片、矿物 • 能谱仪(EDS)* • 软材料：聚合物、药品、过滤器、凝胶体、薄纱织品、种植