纳米材料同步辐射研究.docVIP

纳米材料同步辐射研究 　　【摘 要】 近年来，科学家们在纳米材料的生长及应用研究等诸多方面取得了巨大的进展。然而，由于受到表征手段的限制，纳米科技领域的许多关键科学问题至今仍未得到清楚的解答。同步辐射具有多种独特优点，随着国内第三代同步辐射光源的逐步发展，基于同步辐射的各种实验技术将为实时、原位、动态地表征纳米结构提供功能强大的研究平台。文章简单介绍了基于同步辐射的一些新型纳米结构表征技术，并根据作者的研究举例说明了同步辐射在纳米材料研究方面的一些优势。 　　【关键词】 纳米材料 同步辐射技术 X射线吸收精细结构 扫描透射X射线显微术 X射线激发发光光谱 　　1 引言 　　纳米材料由于其量子效应、表面效应等而具有明显不同于其相应块体材料的独特结构和新颖特性。诸多研究结果表明：纳米体系的性能很大程度上决定于其尺寸大小、表面和界面的结构[1]。尽管近十多年来，科学家们在纳米结构的制备、表面和界面结构观察、性能测试等诸多领域取得了长足的进步，但很多纳米结构的成核和生长机理并不清楚，使得纳米结构的生长不易得到控制；纳米体系表面和界面的结构观察和性能的测试方法仍需进一步完善和创新；影响纳米体系的性能和稳定性的原因需更清楚、更准确地得到阐明。这些问题都是纳米材料领域中极其重要、且带有普遍性的关键科学问题，也是当今科学家们在研究纳米结构时所遇到的严峻挑战[2，3]。因而发展完全不同于常规实验室的新颖、高分辨和高灵敏的纳米结构表征手段（特别是原位、实时和动态的表征手段）成为当务之急[3，5]。 　　同步辐射是速度接近光速的带电粒子在作曲线运动时沿轨道切线方向发出的电磁辐射（也叫同步光）。同步辐射技术可以在纳米体系的结构和性能表征方面发挥重要作用，原因是： 　　（1）第三代先进的同步辐射光源是高强度、宽频谱（从红外到硬X射线）和相干性好的光源，能够彻底解决由于纳米结构尺寸小、检测信号弱、信噪比差，难以用常规实验室手段进行表征的难题； 　　（2）与电子束比较，X射线同物质相互作用较弱，X射线在表征纳米结构时对其结构的干扰甚至损伤小； 　　（3）同步辐射技术本身也提供一些常规实验室不能提供的特有的材料结构表征和性能测试手段，如X射线吸收谱； 　　（4）超强的第三代同步辐射光源的极佳的信噪比，为许多纳米粉体材料、分散于液体中的纳米材料及生物材料样品提供了特有的研究平台； 　　（5）一些典型的同步辐射测试手段，如同步辐射小角X射线散射谱-SAXS，特别适用于研究尺寸为0.1nm-100nm的物质结构； 　　（6）超强的第三代同步辐射光源和X射线微聚焦技术使更精细地表征纳米材料，甚至是分析单个纳米粒子的结构、化学态，得到纳米单体表面和界面的相关信息成为可能； 　　（7）超强的第三代同步辐射光源能获得各种时间分辨的快速同步辐射光谱，使原位实时跟踪纳米材料的结构和性能变化成为可能，并进而为研究纳米材料的结构演化和性能稳定性提供了必要的手段。 　　鉴于上述同步辐射实验技术在纳米材料结构表征和性能测试方面的优势和潜力，它们正成为研究纳米材料的一种强有力的工具。 　　2 基于同步辐射光源的新型纳米结构表征技术 　　近十多年来，科学家们运用常规的实验室表征手段对纳米结构进行了广泛的研究，取得了众多的进展。然而，由于纳米结构的小尺寸和复杂性，科学家们在对纳米结构的表征上仍然面临许多挑战，尤其是对纳米结构动力学过程（如纳米结构的成核与生长过程、结构演化过程等）的表征。随着同步辐射光源，特别是第三代先进光源的出现，人们在研究纳米结构时又多了一种极其重要的研究手段，其中许多表征方法还是同步辐射光源所特有的。如何利用第三代先进光源发展针对纳米结构的新型同步辐射表征技术，在国际上已经成为广受关注的课题。下面就基于同步辐射光源的部分新型纳米结构表征技术简述如下。 　　2.1 快速X射线吸收谱 　　X射线吸收精细结构（XAFS）谱学方法包括X射线近边吸收谱（XANES或NEXAFS）和扩展边X射线吸收谱（EXAFS），是一种功能强大的表征纳米体系原子/分子结构、晶体结构、电子结构和化学态的方法。常规的XAFS是纳米结构研究中的一种重要工具[5，6]，但是常规的XAFS无法原位、动态地测量纳米体系的结构变化。同步辐射快速X射线吸收谱（QXAFS）是最近20年新发展起来的一种实验技术，具有高时间分辨的特征。QXAFS不仅具备XAFS在纳米结构研究中的优势，而且由于高时间分辨的特征，极大地扩展了XAFS在纳米结构研究中的应用。因此，利用QXAFS并结合原位实验技术可以原位、实时、动态地表征纳米体系的结构，从而大大扩展纳米领域的研究范围。 　　利用QXAFS的时间分辨特性，并结合原位检测技术，QXAFS能够应用于以下一些纳米结构研究：①物理化学变化的动