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某产品峰值压力与时间超差分析 　　摘 要：某产品在验收试验P-t发火输出过程中，出现峰值压力和时间超差的现象。通过理论分析、故障排查和试验验证，最终找出了峰值压力和时间超差的原因。 　　关键词：P-t发火输出；峰值压力和时间；超差；原因 　　某产品进行P-t发火输出试验时， 其中一发产品P-t曲线形状出现异常，峰值压力降低及峰压时间增长，峰值压力及时间分别为5.2MPa和50.2ms（如图1），正常曲线见图2。由于发火输出试验的结果对考核产品的性能稳定性及可靠性具有重要作用。因此，必须找出产品P-t曲线异常的原因。首先应对产品P-t曲线测试系统进行全面排查，分析是否是测试原因造成峰值压力及峰压时间均超差。 　　1 P-t曲线测试影响因素分析 　　产品P-t曲线测试系统由密闭爆发器、压电晶体传感器、电荷放大器、数字示波器、脉冲发生器及数据处理系统等部分组成，产品在密闭爆发器中进行定容燃烧，压力不断增加，压力传感器将压力信号转换成电荷信号，通过电荷放大器将电荷信号转化为电压信号，由数据采集卡（瞬态记录仪）采集，再经计算机程序转换处理，得到燃烧过程的压力-时间曲线（即p-t曲线）。 　　根据产品P-t曲线测试系统的工作原理分析，引起产品峰值压力和时间超差可能会有两种情况，其一，测试系统仪器本身异常；其二，在P-t曲线测试过程中人为操作失误。从这两种可能的情况主要分析了三个部分的问题： 　　（1）对试验所使用的传感器、电荷放大器、脉冲发生器、示波器和数据采集系统等仪器的性能是否完好进行检查。 　　（2）对发火电流、传感器灵敏度、电荷放大器的参数设置的检查。 　　（3）对产品测压容器的容积、密封性和容腔是否干燥的检查。建立测试系统故障树如图3。 　　2 故障排查及定位 　　2.1 测试系统仪器本身异常 　　2.1.1 传感器异常 　　（1）传感器性能异常。试验所使用的传感器在计量与检定周期内。在产品P-t曲线出现异常后，对所用传感器进行静态标定，结果显示传感器灵敏度值准确，线形度良好。因此，可以排除传感器性能差引起曲线异常的可能。 　　（2）传感器孔畅通性异常。针对产品峰值压力降低的现象，可能是产品发火后产生的残渣堵塞传感器孔。针对这个原因，我们首先对产品发火后的残渣进行检查，发现发火后产生的残渣与其它正常的并没有明显的不同，无论从残渣的数量和尺寸的大小，都与正常的一致。从拆卸下来的测压容器检查来看，传感器孔位置并没有发现有堵塞的残渣。为了进一步验证残渣对传感器孔的堵塞问题，用3发产品进行了试验，用同一个容器，在不进行任何清理的情况下连续试验，所试的3发产品P-t曲线均正常，而且试验过程未发现有传感器孔堵塞的现象。因此，排除了传感器孔堵塞的可能。 　　2.1.2 电荷放大器异常 　　试验所使用的电荷放大器在计量与检定周期内。在产品P-t曲线出现异常后，用该套测试设备对同批的一发装入清理干净的测压容器内的产品进行试验，结果符合要求。因此，可以排除电荷放大器性能异常引起曲线异常。 　　2.1.3 发火电流异常 　　在产品P-t曲线出现异常后，对整个测试系统进行检查，没有发现线路上有短路分流的情况，用该套测试设备对同批的一发装入清理干净的测压容器内的产品进行试验，结果符合要求。因此，可以排除发火电流分流引起曲线异常的可能。 　　2.1.4 测压容器密封性差 　　如果容器密封性差，产品在容器中发火时会出现漏气，造成产品峰值压力偏低。试验前传感器和产品均用试验工艺要求的力矩扳手旋紧，在产品P-t曲线出现异常后，将产品从容器中取出，产品上装有工艺要求尺寸的紫铜垫圈，在刚打开容器的压盖时，就听见有气体排出的声音，说明容器密封性良好。又将一发产品装入容器内，传感器和产品均不用扭力扳手旋紧，结果显示压力曲线形状和正常压力曲线的形状基本一致，只是压力降低，时间正常。因此，我们排除了容器密封性差引起曲线异常的可能。 　　2.2 人为操作不当 　　2.2.1 各设备试验参数设置错误 　　在产品P-t曲线出现异常后，检查发火电流、传感器灵敏度、电荷放大器的参数设置均与摸底和试生产时设置一致，未发现有设置错误的情况，在产品P-t曲线出现异常后，用该套测试设备对同批的一发装入清理干净的测压容器内的产品进行试验，结果符合要求。因此，我们可以排除试验参数设置错误引起曲线异常的可能。 　　2.2.2 测压容器的使用错误 　　如果测压容器容积大于技术条件的规定，则可能会造成产品峰值压力偏低。在摸底和试生产时对使用的测压容器进行了编号和容积滴定。在产品P-t曲线出现异常后，检查了容器，发现与摸底和试生产使用的是同一容器，并再次对其容积进行了滴定，测压容器容积符合公差要求。因此，排除了测压容器使用错误，容积偏大造成产品峰值压力