基于STM32与多照度传感器融合照度测量系统.docVIP

基于STM32与多照度传感器融合照度测量系统 　　摘要针对新型数字照度传感芯片BH1750FVI的精度的不足，通过多个BH1750FVI模块采集到的照度数据，在STM32主控芯片进行自适应加权融合算法处理，从而实现更高精度测量。经测试表明，相比单个传感器，系统测试精度明显提高，且在单个传感器发生故障时,系统具有更强的容错特性。 　　【关键词】BH1750FVI STM32 自适应加权融合 　　目前，针对照度测量，传统采集元件光电三极管和光电池，由于信号放大电路和模数转换电路必不可少而导致其在功耗、便捷使用等方面受到限制。新型数字照度传感芯片BH1750FVI较好地解决了传统照度元件的弊端，其优良光谱灵敏度特性、简单易用、价格低廉而广泛应用于便携式设备、温室大棚等环境的照度检测。但在精度测量要求较高的环境中，照度传感芯片BH1750FVI的精度却不能满足要求，但其测量精度相对误差较高，在要求较高精度场合却达不到要求。考虑到其价格低廉、简单易用，对多个传感器测得的照度数据通过算法融合来实现精度提高是一种可行的方案。本文采用高性能、低成本、低功耗的STM32处理芯片控制采集，并将采集的多组数据进行自适应加权融合处理，实现了更高精度的测量。 　　1 系统硬件设计 　　系统硬件构架如图1，以STM32F103作为核心控制芯片，与3路BH1750FVI照度模块通过IIC总线协议实现