Reliability-Failure-Rate--MTBF-可靠性、失效率和MTBF概念.pdfVIP

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Reliability-Failure-Rate-

Reliability, Failure Rate MTBF 可靠性、失效率和MTBF概念 Construction of IGBT module with base plate IGBT模块的基本构造(含基板) Page 2 Wear-out failures IGBT模块的基本构造决定了它的老化失效机理 End of Life: bond wire connections 绑定线连接老化所造成的使用寿命终结 End of Life: solder connections 焊接层连接老化所造成的使用寿命终结 Destruction of housing / terminals 封装/端子的老化所造成的使用寿命终结 Other failures (climatic stresses, chemical stresses) 其它因素(如气候变化、化学腐蚀)所造成的老化失效 Page 3 Bond Wire Connection Wear-out Failure 绑定线连接老化失效的典型式样 Bond-wire lift-off (left) and reconstruction of Al metallization (right) 绑定线脱离(左)和铝金属化层 重组(右)   Bond-wire heel cracks 绑定线跟部位置的断裂 Page 4 Solder Connection Wear-out 焊接层(DCB-基板)的老化 Fatigue of Solder Connection between DCB and Baseplate 陶瓷衬底和基板之间焊接层的老化衰变       Coefficient of thermal expansion (CTE) 几种材料的热膨胀系数 Page 5 Destruction of Housing/Terminals 封装/端子的老化损坏 Frame/Ter

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