点阵常数和晶体结构的测定.pptVIP

问题的提出 与点阵常数变化密切相关的物理问题： 晶体物质的结合能 密度 热膨胀 固溶体类型 固溶度 固态相变 宏观应力等。 可通过点阵常数的变化揭示上述问题的物理本质及变化规律。 在这些过程中，点阵常数的变化一般都是很小(约为10-5nm数量级)，因此必须对点阵常数进行精密测定。 用X射线衍射法测定点阵常数的依据是衍射线的位置，即2θ角，在衍射花样已指标化的其础上，可通过布拉格方程和晶面间距公式计算点阵常数。 立方晶系的点阵常数的计算公式为 通过每一条衍射线都可以计算出一个点阵常数值，由于测量误差的存在，计算结果之间会有微小的差别。 3、温度变化误差 温度变化可引起点阵参数的变化，从而造成误差。 4、X射线折射误差 通常 X射线的折射率极小，但在做精确测定点阵参数时，有时也要考虑这一因素。 5、特征辐射非单色误差 如果衍射谱线中包括Kα1与Kα2双线成分，在确定衍射峰位之前必须将Kα2线从总谱线中分离出去，这样就可以消除该因素的影响。 但即使采用纯Kα1特征辐射，也并非是绝对单色的辐射线，而是有一定的波谱分布。 衍射分析工作性质不同，所着重考虑的误差项目也不同。 方法方面 布拉格定律的微分式为 可见，当Δθ一定时，θ角越大则∣Δd/d∣越小。说明选用大θ角的衍射线，有助于减少点阵参数的测量误差。 第二节 点阵常数测定 如果对结果精确度要求不是太高，可利用高角衍射线直接计算试样的点阵参数。 为了获得精确的点阵参数，则必须消除有关的系统误差，可分别采用外标法 内标法或线对法等。 方法 外推法 cos2?外推法 Nelson-Riley外推法 内标法 线对法 外推法 为了获得试样的精确点阵参数，除改进实验方法及提高测量精度外，还可以通过数学处理的方法，消除实验中的系统误差，最终得到点阵参数的真值。 衍射仪误差中的衍射几何误差，都有这样的特点，当 2θ 值趋近于 180o 时点阵误差趋近于零，利用此规律进行数据处理，可以消除其影响。 式中右边第一项为 2θ 的 0o 误差，第二项为离轴误差，第三项为试样吸收误差，第四项为试样平面性误差，第五项与垂直发散误差有关。 对于这些误差，当 2θ 趋向 180o 时均趋近于零，并且近似正比于 cos2θ 立方晶系 Δa/a=Δd/d ，综合上述误差对点阵参数的影响，有： 测量试样中 2θ 大于 90o 的各衍射线 2θ 值，并分别求出其 a 值，然后以 cos2θ 为横坐标，以 a 为纵坐标，取点作图。外推至 cos2θ=0 即 2θ=180o，最终可得到点阵常数 a0 值，这就是所谓的图解外推法。 cos2θ a cos2θ/sinθ+ cos2θ/θ a 以 cos2θ 作为外推函数，仅适合于采用 2θ≥120o 的衍射线，而 (cos2θ/sinθ+ cos2θ/θ)(也叫N-R Method)适用于更低角度的衍射。 其中分母中的θ 项，单位是弧度。 h k l 2theta d(A) a(A) 1 1 1 28.3699 3.14332 5.44439 2 2 0 47.238 1.92256 5.43782 3 1 1 56.06 1.63912 5.43635 4 0 0 69.0791 1.35858 5.43432 3 3 1 76.3222 1.24666 5.43406 4 2 2 87.9814 1.10905 5.43321 5 1 1 94.903 1.04557 5.43294 4 4 0 106.6626 0.96033 5.43245 5 3 1 114.0568 0.91816 5.43191 6 2 0 127.5153 0.85879 5.43146 5 3 3 136.8696 0.82826 5.43126 内标法 利用一种已知点阵参数的物质(内标样品)来标定衍射谱线。 一般选 Si 或 SiO2 粉末作为内标样品，如果被测试样点阵参数较大，可选 As2O3 粉末 2θs 2θhkl 线对法 2θ1 2θ2 利用同一次测量所得到的两根衍射线的线位差值，来计算点阵参数 由于在计算过程中两衍射线的线位相减，因而消除了衍射仪 2θ 的零位设置误差 * 六、晶格参数的精确测定 /Properties/A/LatticeConstants.sp.wt.html 六、晶格参数的精确测定 问题的提出 误差来源 测角仪、装样、单色器 实验参数设定 管流、管压、扫描速度、狭缝 数据处理 方法 点阵常数是晶体物质的重要参