x射线衍射分析应用的晶格常数-医学课件.pptVIP

λ2/3a2= sin2θHK/(H2+HK+K2) * CL2 H＝1,K＝0 H＝K＝0 2 0.0138 0.0896 3 0.0224 0.0982 4 0.0895 0.01653 ? H=1,K=0 H=1,K=1 H=K=0 6 0.2015 0.0499 0.2773 ? H=2,K=0 H=K=1 H=1,K=0 8 0.0137 0.0895 0.2411 9 0.0222 0.0980 0.2496 10 0.2013 0.2771 0.4287 * 为了解决六方晶系的指标化问题，有人还绘出了图解法图表，利用该图表，可直接对六方晶系进行指标化 进行指标化的样品最好是纯物相，否则因为其它物相的存在干扰指标化的正常判断 * 四六方晶系指数标定的图解三线法 这里介绍陆学善发展的一种新的图解法。开始时只需使用已经校正系统误差的三条低角度衍射线的sin2θ值和晶体的密度，用图解法求得点阵参数，进而进行指标化。其原理和方法如下：对于四方和六方晶系，每一条衍射线都可写出 对四方晶系而言， 对六方晶系而言， * 对于任一条衍射线的 值，由于 可为一些定数，因此由一个 在A-C空间代表一簇直线(通过改变 而得)，直线方程可由上式改写为 显然，是以A、C为变量的截距式直线方程，在A、C上的截距分别为 、 。 * Zn，六方晶系，Z=2，CuKα辐射(?=0.154056nm)，sin2θ1=0.09742、sin2θ2=0.11169、sin2θ3=0.13608, ρ=7.134g/cm3。令mi=0,1,3；n=0,1,4；Z=1,2,3,4。列表如下： ? ? i ? 2θ ? θ m=n=1 Sin2θi m=3 Sin2θi/3 n=4 Sin2θi/4 1 ? ? 0.09742 0.03247 0.02435 2 ? ? 0.11169 0.03723 0.027923 3 ? ? 0.13608 0.04536 0.03402 ? * * 找出三线交点，对应A=0.11169，C=0.02435，用等原子曲线校验。上面的点即为所得。从而写出衍射线指数如下： : m=0,n=4, (002) : m=1,n=0, (100) : m=1,n=1, (101) 由 得到晶格常数 a=0.26648nm，c=0.49378nm。 * 4.2点阵常数精确测定 点阵常数是晶体的重要基本参数，随化学组分和外界条件(T,P)而变。材料研究中，它涉及的问题有：键合能、密度、热膨胀、固溶体类型、固溶度、固态相变，宏观应力。点阵常数的变化量很小，约为 10－3 nm ,必须精确测定。 * * 4.2.1 原理 * 图 1 * 图 2 * 因为 ，所以在测量误差Δθ一定的条件下，θ越大 ，点阵常数的相对误差越小。所以进行点阵常数的精确测定时要选择高角度的衍射线条。 * 4.2.2 两条途径 仪器设计和实验方面尽量做到理想，消除系统误差。从实验细节(X-Ray Tube,?，Kalpha, slit,单色器，试样粉末粒度在10-3~10-5cm之间，消除应力，消除试样偏心误差及温度影响) 、峰位的准确测定到数据处理均不可忽视。 探讨系统误差所遵循的规律，从而用图解外推法或计算法求得精确值。目前采用的计算机软件有：ITO，TEROR等 * 衍射谱 * 4.2.3 衍射仪法 误差来源 仪器固有误差、光栏准直、试样偏心（含吸收）、光束几何、物理因素（单色，吸收）、 测量误差 * a-水平发散度；s －试样表面离轴距离；R－ 测角仪半径； m －试样的线吸收系数；d1和d2 －入射线和衍射线光路的有效发散角（棱角光阑片间距除以光路方向的片长） 注意：仪器调整、测量条件与方式、制样 （粒度＜8微米，平整度＜0.01mm） * 4.2.4 数据处理 (1) 外推法 图解外推，在衍射仪法中，利用外推法求得点阵常数的精确值时，只能从cos2θ, ctg2θ, cosθctgθ三种主体函数中选取其中的一种进行函数外推。外推函数f(θ)的选取应根据被测试样的主要误差来源而定。例如： 当试样的主要误差来源为吸收误差时，最好选用外推函数cos2θ ； 当主要误差为平板试样引起的散焦误差（或x射线轴向发散误差）时，选用ctg2θ； 当主要误差为试样表面偏离测角仪中心轴的离轴误差时，