6(可测性设计(DFT+BIST).ppt

内测试结构设计及工作方式 结构，见图； 并行特征分析器可同时测试多个被测序列的特征； 工作方式：由A，B控制 AB=11，非测试状态，系统正常工作， 移位寄存器可为系统使用； AB=00，串行扫描测试状态，输入端输入串行移位序列；输出端串行输出 测试结果； AB=10，并行测试状态，测试速度快， AB=01，移位寄存器清零，作系统内部复位等。 结构 并行特征分析器 输入 输出 IC功能块 伪随机码发生器 A B B1 功能 块1 B2 功能 块2 AB=10 电子科大 电子科大 可测性设计的重要性体现在哪里？ 什么是可测性测度？其计算方法是什么？ 可测性改善设计的步骤是什么？ 内测试的组成是什么？ 边界扫描四种测试总线是什么？ 第六章 思考题 边缘扫描测试（BST）基本结构 边缘扫描测试（BST-Boundary Scan Test); 结构： 标准四总线结构： TDI-数据输入端； TDO-数据输出端； TMS-测试方式选择输入端； TCK-测试时钟输入端； 边缘扫描寄存器（BSR） 测试数据移位寄存器 辅助寄存器（器件识别，旁路） 指令寄存器 控制器 多路转换器 结构 边缘扫描寄存器 多路转换器 控制器 旁路 器件识别 指令寄存器 多路转换器 数据寄存器 TDO TCK TMS TDI 系统逻辑 IC 电子科大 边缘扫描测试（BST）基本结构 TCK 核心逻辑 核心逻辑 测试互连线 TDO TDI TDO 管脚 TAP控制器 TAP控制器 JTAG测试仪 TMS TDI 边界扫描基本体系结构 边缘扫描测试（BST）基本结构 边缘扫描测试（BST）基本结构 边缘扫描测试（BST）基本结构 边缘扫描测试（BST）基本结构 边缘扫描测试（BST）基本结构 EP2C5Q208边界扫描测试代码 int main(){ //调用提供的动态链接库函数，验证动态链接库是否链接正确 if(test(0x0202) != 0x0202) { printf("动态链接库链接失败\n"); return 0; } out_buf[0] = 0; out_buf[1] = 0; in_buf[0] = 0; in_buf[1] = 0; TAPtest();//TAP完整性测 IDtest();//芯片ID码检测 IDCODEtest();//手动输入获取IDCODE BYPASS();//旁路测试 SAMPLE_Test();//采样测试 EXTEST();//外测试 边缘扫描测试（BST）基本结构 边缘扫描测试（BST）基本结构 EP2C5Q208.BSD.txt attribute INSTRUCTION_LENGTH of ep2c5Q208 : entity is 10; attribute INSTRUCTION_OPCODE of ep2c5Q208 : entity is "BYPASS (1111111111), "& "EXTEST (0000001111), "& "SAMPLE (0000000101), "& "IDCODE (0000000110), "& "USERCODE (0000000111), "& "CLAMP (0000001010), "& "HIGHZ (000