基于STM32的真空玻璃传热参数测试装置的研制-电子器件.PDF

第４１卷 第３期 电 子 器 件 Ｖｏｌ４１　 Ｎｏ３ ２０１８年６ 月 ＣｈｉｎｅｓｅＪｏｕｒｎａｌ ｏｆ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｄｅｖｉｃｅｓ Ｊｕｎｅ ２０１８ Ｄｅｖｅｌｏｐｍｅｎｔ ｏｆ Ｖａｃｕｕｍ Ｇｌａｓｓ Ｈｅａｔ Ｔｒａｎｓｆｅｒ Ｐａｒａｍｅｔｅｒ Ｔｅｓｔｉｎｇ Ｄｅｖｉｃｅ Ｂａｓｅｄ ｏｎ ＳＴＭ３２∗ １∗ ２ ３ １ ＺＨＡＮＧＸｉｙｕ ꎬＬＩ Ｊｉｎｌｅｉ ꎬＷＡＮＧＸｕ ꎬＱＩＵＭａｉｄｉ (１.Ｈａｏｊｉｎｇ Ｃｏｌｌｅｇｅ ｏｆ Ｓｈａａｎｘｉ Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ ｏｆ Ｓｃｉｅｎｃｅ ａｎｄ ＴｅｃｈｎｏｌｏｇｙꎬＸｉ’ａｎ ７１００００ꎬＣｈｉｎａꎻ ２.Ｘｉ’ａｎＡｖｉａｔｉｏｎ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ Ｃｏ.ꎬＬｔｄꎬＸｉ’ａｎ ７１００２１ꎬＣｈｉｎａꎻ ３.Ｇｕａｎｇｄｏｎｇ ＧｏＢａｏ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ Ｃｏ.ꎬＬｔｄꎬＤｏｎｇｇｕａｎ Ｇｕａｎｇｄｏｎｇ ５２３０００ꎬＣｈｉｎａ) Ａｂｓｔｒａｃｔ:Ｉｎ ｏｒｄｅｒ ｔｏｓｏｌｖｅｔｈｅｐｒｏｂｌｅｍｏｆ ｌｏｗ ｍｅａｓｕｒｉｎｇｅｆｆｉｃｉｅｎｃｙ ａｎｄｌｏｗｐｒｅｃｉｓｉｏｎｏｆ ｔｒａｄｉｔｉｏｎａｌｖａｃｕｕｍｇｌａｓｓｈｅａｔ ｔｒａｎｓｆｅｒ ｐａｒａｍｅｔｅｒ ｍｅａｓｕｒｉｎｇ ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔꎬｔｈｅ ｖａｃｕｕｍ ｇｌａｓｓ ｈｅａｔ ｔｒａｎｓｆｅｒ ｐａｒａｍｅｔｅｒ ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ ｄｅｖｉｃｅ ｂａｓｅｄ ｏｎ ＳＴＭ３２ ｉｓｄｅｖｅｌｏｐｅｄ. Ｏｎｔｈｅｂａｓｉｓｏｆ ａｎａｌｙｓｉｓｏｆ ｔｈｅ ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ ｐｒｉｎｃｉｐｌｅ ｏｆ ｖａｃｕｕｍｇｌａｓｓｈｅａｔ ｔｒａｎｓｆｅｒ ｐａｒａｍｅｔｅｒｓꎬ ａ ｔｅｓｔ ｐｒｏｔｏｔｙｐｅ ｉｓ ｄｅｓｉｇｎｅｄ ｂｙ ｕｓｉｎｇ ＳＴＭ３２Ｆ１０３Ｃ８Ｔ６ꎬｗｈｉｃｈ ｃａｎ ｗｏｒｋ ｕｎｄｅｒ ｔｈｅ ｎａｔｉｏｎａｌ ｓｔａｎｄａｒｄ ｔｅｓｔ ｃｏｎｄｉｔｉｏｎｓ. Ａｎｄｔｈｅｔｅｓｔ ｓｙｓｔｅｍｍｏｄｅｌ ｉｓｓｅｔｕｐｉｎＳｉｍｕｌｉｎｋꎬａｎｄｔｈｅｃｏｎｔｒｏｌ ｓｙｓｔｅｍｉｓｓｉｍｕｌａｔｅｄａｎｄｄｅｂｕｇｇｅｄｏｎ￣ｌｉｎｅ.Ｔｈｅｓｉｍｕ￣ ｌａｔｉｏｎ ｒｅｓｕｌｔｓ ａｎｄ ｅｘｐｅｒｉｍｅｎｔａｌ ｄａｔａ ｓｈｏｗ ｔｈａｔ ｔｈｅＰＩＤｃｏｎｔｒｏｌ ｓｔｒａｔｅｇｙ ｉｓａｄｏｐｔｅｄｔｏ ｍｅａｓｕｒｅｔｈｅｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ ａｎｄｔｈｅ ａｖｅｒａｇｅ ｖａｌｕｅ ｉｓ ｍｅａｓｕｒｅｄ ｓｅｖｅｒａｌ ｔｉｍｅｓ.Ｔｈｅ ｅｒｒｏｒ ｂｅｔｗｅｅｎｔｈｅｔｅｓｔ ａｎｄｔｈｅｒｅａｌ ｖａｌｕｅ ｉｓ０.１％.Ｔｈｅｒｅｓｕｌｔ ｓｈｏｗｓｔｈａｔ ｔｈｅ ｄｅｖｉｃｅ ｍｅｅｔｓｔｈｅ ｒｅｑｕｉｒｅｍｅｎｔｓ ｏｆ ｈｉｇｈ ｉｎｔｅｌｌｉｇｅｎｃｅꎬｄｉｇｉｔａｌｉｚａｔｉｏｎ ａｎｄ ｈｉｇｈ ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ ａｃｃｕｒａｃｙ. Ｋｅｙ ｗｏｒｄｓ:ｖａｃｕｕｍ ｇｌａｓｓꎻｈｅａｔ ｔｒａｎｓｆｅｒ ｐａｒａｍｅｔｅｒｓꎻＳＴＭ３２ꎻｃｏｎｓｔａｎｔ ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ ｔｅｓｔ － ＥＥＡＣＣ:６３３０　 　 　 　 ｄｏｉ:１０.３９６９/ｊ.ｉｓｓｎ.１００５ ９４９０.２０１８.０３.０４１ 基于ＳＴＭ３２ 的真空玻璃传热参数 测试装置的研制∗ １∗ ２ ３ １