无损检测仪器设备的期间核查方法8ccnsivi.docxVIP

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  • 2018-10-29 发布于湖北
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无损检测仪器设备的期间核查方法8ccnsivi.docx

无损检测仪器设备的期间核查方法8ccnsivi

无损检测仪器设备的期间核查方法 射线检测 曝光曲线的核查方法 1.1核查周期 射线设备均应制作曝光曲线,曝光曲线每年至少核查一次;射线设备更换重要部件或经较大修理后,应及时对曝光曲线进行核查。 1.2准备 准备一块阶梯试块(图1)和2块补充试块,材料与被透照工件相同或相近。其中补充试块尺寸长*宽*高为210*100*10(mm)。 胶片、增感屏等材料与制作曝光曲线时一致。 图1 制作曝光曲线的阶梯试块 1.3 透照 各机型按表一选择低、中、高三个管电压进行曝光三次,曝光时其他参数(曝光时间、焦距)与制作曝光曲线时一致。得到一组胶片。 表一 管电压(KV 管电压(KV) 低 中 高 1605 60 100 140 2005 80 130 180 2505 120 180 230 3005 140 210 280 1.4 暗室处理:按照制作曝光曲线时的暗室处理条件进行冲洗胶片。 1.5 测定:分别测定底片黑度为3.0(该黑度值与曝光曲线一致)时,对应的阶梯试块厚度。 1.6 核查结果判定:当上述测定的三个厚度值,与低、中、高管电压查原曝光曲线的厚度值之差在±2mm范围内,曝光曲线合格。否则为不合格,应重新制作。 1.7 曝光曲线核查记录,按“文件编号:YTHNDT/QM04–C-JL120” 2

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