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双能R物质识别算法在T成像系统中的应用.doc
双能DR物质识别算法在CT成像系统中的应用
:汤昕烨,张丽,陈志强,高河伟,张国伟 】本文介绍一种适用于计算机断层成像的双能 透视物质识别算法,此算法基于单能CT重建图像,通过对 CT图像的分割及对断层几何信息的提取,分块重建材料有效 原子序数及电子密度的分布。结合各种扫描轨迹的CT成像系 统,可以实现有效的物质材料识别。同时,对比于传统的双 能CT方法,本方法结合单能CT重建图像,改善了双能DR识 别效果,能够实现较为精确的物质识别,在安全检查等应用 领域有着现实意义。
关键词】双能DR; CT成像;物质识别
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energyDR; CTimagesystem;mateKey wo rds:dual rialrecognition
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引百
自“九一一”事件以来,在全世界范围内公众对恐怖事 件的关注日益增加。出于公共安全因素的考虑,对乘客行李 中炸药及其他危险品或违禁品的检查正越发得到重视。目前 机场和火车站入口使用的安全检查系统主要通过双能X射线 方法来对乘客行李内的物质进行区分及检查[1]。
Alvarez和Macovski [2 ]于1976年最早提出了双能X 射线断层扫描的基本重建方法,通过解决非线性方程式重建 物质原子序数及密度的分布。近年来提出的一种双能曲线方 法[3,4],则通过对探测器得到的高、低能透明度进行曲线 拟合,实现对未知均匀材料有效原子序数和质量厚度的精确 重建。
计算机断层成像技术解决了一般透视成像中的物体重 叠问题,如果投影数据完备,就可以得到精确的断层图像。
至今,CT成像系统已经发展到第五代。英国工程师H ounsfield于1967年设计了第一代CT机,所采用的是平行
束平移一旋转方式。第二代CT机采用扇束平移_旋转方式。 第三代CT机采用的是目前常用的扇形束探测器与源旋转扫 描方式。第四代CT机的扫描方式和第三代的相似,但是扫 描过程中只有X射线源旋转运动。第五代CT机是电子束扫 描机,它通过电子束的旋转来实现X光源的旋转运动,从而 实现毫秒级的快速扫描[5]。
结合上述技术的特点,开发基于双能技术的CT成像系 统用于机场、海关、车站等行李物品的检查,不但能得到断 层图像,辨认叠放物品,还能够获得被检物品的材料信息, 实现较为准确的物质识别。
本文提出了一种基于CT重建图像的双能DR重建方法, 能够较为准确地重建材料的有效原子序数和电子密度分布。 与常规双能DR算法相比,此方法可以解决材料重叠的问题。 与基于求解非线性方程组的常规双能CT算法相比,该方法 通过图像分割技术,采用分块重建和求解线性方程组的方法 与CT成像系统相结合,能够通过使用少量双能探测器实现 较为准确的快速物质识别,适用于安全检查系统对高通关率 的要求。
1双能断层成像重建
传统的双能CT算法利用双能量投影数据信息重建待测 物体的物质特性。通过对线性吸收系数进行分解,可将其表 示为与物质特性相关量的线性组合,基本分解函数可分为不
同的两类:由康普顿散射和光电吸收所引起衰减的线性组合: u (E)二cl up(E)+c2uC(E),⑴其中up(E)是光电效应引起 的线性衰减,PC(E)是由于康普顿散射引起的线性衰减。常 数cl和c2是所测材料的未知比例系数。
两种所选基础材料的衰减系数的线性组合:U (E)=al u A (
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