第12章 辐式传感器.pptVIP

图12-15(b)是将射线源和探测器分别安装在容器的下部和上部，射线穿过容器中的被测介质和介质上方的气体后到达探测器。显然，探测器接收到的射线强弱与物位的高度有关。这种方法可对物位进行连续测量，但是测量范围比较窄(一般为300~500 mm)， 测量准确度较低。  为了克服图12-15(b)存在的上述缺点，可采用线状的射线源， 如图12 - 15(c)；或采用线状的探测器，如图12-15(d)。虽然对射线源或探测器的要求提高了，但这两种方法既可以适应宽量程的需要， 又可以改善线性特性。 图 12 – 15 辐射式物位计的测量原理框图 3. X荧光材料成分分析仪 射到物质上的核辐射所产生的次级辐射称为次级荧光射线（如特征X射线），荧光射线的能谱和强度与物质的成分、厚度及密度等有关。利用荧光效应可以检测覆盖层厚度、物质成分、 密度和固体颗粒的粒度等参数。 荧光式材料成分分析仪具有分析速度快，精度高，灵敏度高，应用范围广，成本低，易于操作等优点，已经得到广泛应用。  能量色散X射线荧光成分分析仪是根据初级射线从样品中激发出来的特征X射线荧光对材料成分进行定性分析和定量分析的。即初级射线从样品中激发出来的多种能量的各组成元素的特征X射线射入探测器，该探测器输出一个和射入其中的X射线能量成正比的脉冲， 这些脉冲输给脉冲高度分析器、定标器和显示记录仪器，给出以X射线荧光能量为横坐标的能谱曲线，由能谱曲线的峰位置及峰面积的大小，就可以求出样品中含有什么元素及它的质量含量。 能量色散型X射线荧光分析仪的探头部分如图12-16所示。它由放射源、探测器、 样品台架孔板、滤光片和安全屏蔽快门等组成。在X荧光分析仪中，低能γ射线源和X射线源用得最多。 常用的探测器有正比计数管、闪烁计数管和锂漂移硅半导体探测器。要根据具体的场合，合理地选用。 放射源、样品和探测器间的几何布置也是一个重要问题。 如图12 - 17所示，将放射源表面中心点和样品表面中心点的连线方向与表面中心点的连线方向间的夹角当作散射角θ，散射角θ的选择取决于所用射线能量、探测器形式和所测样品。选择合适的散射角可以使能谱曲线上的散射峰和散射光子的逃逸峰对所测荧光峰的干扰最小。最常用的散射角为90°~180°，这种布置可使探头结构简单、尺寸较小、使用方便。 图12 – 16 X射线荧光分析仪的 图12 – 17 散射角示意图 1. 电离室 电离室是利用射线对气体的电离作用而设计的一种辐射探测器，它的重要部分是两个电极和充满在两个电极间的气体。 气体可以是空气或某些惰性气体。电离室的形状有圆柱体和方盒状。 如图12-5所示，在电离室两侧放置相互绝缘的板电极，电极间加上适当电压，放射线进入电极间的气体中，在核辐射的作用下，电离室中的气体介质即被电离，离子沿着电场的作用线移动，这时在电离室的电路中产生电离电流。 核辐射强度越大, 在电离室产生的离子对越多，产生的电流亦越大。电流I与两个电极间所加的电压U的关系曲线如图12 - 6 所示（曲线1、2和3分别代表不同的辐射强度下的特性曲线）。图中线段OU1称为线性段， 在这一线段上，当电压不大时，电离室中的离子的移动速度亦不大，有部分离子在移动时就重新复合，而只有余下的部分离子能够到达电极上。电极上电压愈高， 离子移动速度越快，离子复合就愈为减少，电流就会增加。线段U1U2称为饱和段， 在这段上的工作电压很大，所以实际上全部生成的离子都能到达电极上。此时电流将与所加电压无关。一般电离室工作在特性曲线的饱和段，其输出电流正比于射到电离室上的核辐射强度。 图12 – 5 电离室的结构示意图 图12 – 6 电离室的特性曲线 图12 – 7 差分电离室 电离室内所充气体的压力、极板的大小和两极间的距离对电离电流都有较大的影响，例如增大气体压力或增大电极面积都会使电离电流增大，电离室的特性曲线也将向增大电离电流的方向移动。  在核辐射检测仪表中，有时用一个电离室，有时用两个电离室。为了使两个电离室的特性一样， 以减少测量误差，通常设计成差分电离室，如图12 - 7所示。在高电阻上流过的电流为两个电离室收集的电流之差，这样可以避免高电阻、 放大器、 环境温度等变化而引起的测量误差。  电离室主要用来探测α、β粒子。在同样条件下，进入电离室的α粒子比β粒子所产生的电流大100多倍。利用电离室测量α、β粒子时， 其效率可以接近100%，而测量γ射线时，则效率很低。这是因为γ射线没有直接电离的本领，它是靠从电离室