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吐丝期玉米倒伏后地面高光谱特征参数剖析 　　摘要： 倒伏是玉米主要自然灾害之一，及时、准确地监测玉米倒伏的程度，对于玉米倒伏灾害的损失评估及防治有重要意义。设置玉米吐丝期不同倒伏程度的田间模拟试验，利用地面高光谱数据，比较正常生长的玉米及受倒伏危害玉米的冠层反射光谱和高光谱特征参数的差异，分析了倒伏角度与高光谱参数之间的相关关系。结果表明，玉米倒伏后可见光波段的反射率增加高于近红外波段，且随着时间的推移，近红外波段的差异变小。玉米吐丝期倒伏后红谷吸收深度变浅，反射绿峰高度降低，红边位置和近红外平台位置均向短波方向移动。红边内（620～760 nm）一阶微分光谱所包围的面积变化差异小；蓝边内（430～470 nm）和近红外平台（780～1 300 nm）的一阶微分光谱所包围的面积增加显著。倒伏角度与高光谱特征参数相关分析表明，D、SDr/SDb、（SDr-SDb）/（SDr+SDb）相关系数最高，可以作为监测玉米倒伏程度的高光谱特征参数指标。 　　关键词： 玉米；吐丝期；高光谱；倒伏角度 　　中图分类号： S127；S513.04 文献标志码： A 　　文章编号：1002-1302（2016）03-0085-03 　　从2012年开始，玉米取代稻谷成为我国第一大粮食作物。近年来，我国玉米产量不断提高，玉米密植与倒伏的矛盾日益突出，玉米倒伏引发的产量损失呈加剧趋势。夏季暴雨、大风在我国呈常态化发生，玉米倒伏风险很大，减产幅度在10%～30%[1]。基于地面高光谱数据，研究玉米不同程度倒伏的光谱特性，可以为光学遥感监测玉米及其他作物倒伏提供依据。高光谱遥感技术是20世纪80年代发展起来的遥感前沿技术，目前该技术已经在农业信息化领域得到应用，在小麦病害[2]、虫灾[3] 等方面都取得了一系列成果。倒伏是生产中主要的自然灾害，关于小麦[4-6]、水稻[7]倒伏研究成果较多，对玉米倒伏也有相应研究[8]。本研究通过玉米不同程度倒伏模拟试验，利用相关分析法探讨玉米冠层高光谱特征参量的变化规律，筛选敏感特征参数，以期为玉米倒伏产量损失评估提供理论依据。 　　1 材料与方法 　　1.1 试验设计 　　试验在北京市小汤山国家精准农业研究示范基地进行。该基地位于北京市昌平区小汤山镇，40°10′ N，116°26′ E，研究区地势平坦，种植方式为冬小麦-玉米轮作一年两熟制，当季种植玉米前为小麦茬口。玉米种植品种为京华8号，2013年6月23日播种，大田留苗密度67 500株/hm2，纯氮用量180 kg/hm2，其他按常规田管理。实施玉米吐丝期人工模拟根倒不同等级处理。试验区于8月19日开始抽雄，8月20日对大田进行灌水处理，使大田表面保持浅水层，8月21日进行模拟倒伏处理，设3种倒伏角度处理，分别为正常、倾斜、严重倒伏，每种处理设置30行12 m。在玉米近地茎秆施加一定推力，使处理区内玉米倒伏程度分为倾斜、严重倒伏2级。以玉米茎秆与垂直方向的夹角为倒伏角度（α），45°≤α90°定义为严重倒伏，0°α45°定义为倾斜。于倒伏后第2天、第5天、第9天分别测定田间相关指标及冠层光谱。 　　1.2 冠层光谱测定 　　用ASD Field-Spec FR2500光谱仪、1050光谱仪、2500光谱仪（均购自美国ASD公司）测量各倒伏样点的玉米冠层光谱，波段值为350～2 500 nm，光谱仪的采样间隔为1.4 nm（350～1 000 nm区间） 和2.0 nm（1 000～2 500 nm区间）。1050光谱仪的波段范围是350～1 050 nm，采样间隔（波段宽）为1.438 nm。选择在天气晴朗或少云、无风条件下测定光谱，光谱测定时间范围为10：00―15：00。测定步骤为：首先开启光谱仪预热，再次测量之前都先进行光谱仪优化，冠层光谱测定前后都进行参考板测定，冠层光谱测定时探头垂直向下，距冠层垂直高度约1 m，光谱仪视场角25°，在视场范围内重复10次，以其平均值作为该样点的冠层光谱值。为了方便运算数据，统一选择350～1 050 nm的光谱值进行分析。 　　1.3 冠层倒伏程度测定 　　冠层倒伏程度用倒伏角度来表示，倒伏角度（α）为玉米茎秆与垂直方向的夹角。根据倒伏后玉米茎秆某点距离地面的高度和该点到根部的长度，求解倒伏角度。处理地块内设置24个2 m×2 m的倒伏均匀的小区，每小区选择有代表性的5株进行测定，平均值为该小区的倒伏角度。 　　1.4 数据分析方法 　　采用常用的高光谱数据平均值，微分及对数变换方法，对R的对数变换和一阶微分变换见如下公式： 　　2 结果与分析 　　2.1 反射光谱特征分析 　　对24个小区对应的正常生长玉米、不同程度倒伏玉米冠层的光谱分别进行测定。对光谱反射率ρ及其分式1/ρ、l