设备一多功能扫探针显微镜 数量一台.docVIP

PAGE \* MERGEFORMAT4 设备一：多功能扫描探针显微镜 数量：一台 1、主要技术指标要求 1.1* 分辨率： 扫描器分辨率：XY：0.1nm，Z：0.1 ?； 对云母样品进行5-10nm范围的扫描成像，测量图像中相邻云母原子的间距值，以此间距值来表征仪器的XY方向分辨率：0.50-0.55nm； 对石墨样品进行3-10nm范围的扫描成像，测量图像中相邻石墨原子的间距值，以此值来表征仪器的XY方向分辨率：0.25-0.30nm； 1.2 *整机噪音：≤ 0.2?； 1.3 *必须为探针扫描成像设计； 1.4 测量模式： （1）成像模式： 接触模式 轻敲模式 抬起模式 定量相位成像模式 横向力显微镜 静电力显微镜 扫描电容显微镜 调频表面电势测量模式 调幅表面电势测量模式 磁力显微镜 压电力显微镜 液体环境工作模式 液体环境力调制测量模式 Q-Control控制技术 高次谐波成像模式 纳米刻蚀及纳米操纵 表面杨氏模式成像模式 （2）非成像模式：静态与动态力曲线及力谱测试、定量纳米力学测试、力谱线自定义测量、杨氏模量测量 （3）其他功能：环境控制成像、溶液成像 *1.5多用途扫描器： （1）低干涉小范围扫描器： 噪声水平: XY少于1? RMS，Z向少于0.1? RMS 成像范围：XY向9um*9um，Z 向2um； （3）悬臂噪音水平： 0.2 ? RMS （4）扫描器精度： ± 0.5% （5）扫描控制：XY方向：24位控制, Z方向：24位控制 （6）所有扫描器如因漏液损坏，提供5年的免费质保 1.6环境控制系统： （1）上部扫描成像（Top-down Scan）且用密封条将扫描硬件部分与成像环境隔开； （2）气氛控制：可以通入任何样品和探针能承受的气体； （3）*可通入湿度气体：相对湿度 2%-98%； （4）液相控制：可进行溶液下成像，不漏液； （5）*提供能原位制样可控制湿度、气氛、溶液下成像的气氛腔 1.7 纳米力学测量： （1）样品表面杨氏模量测量； （2）可实现机械刻蚀，化学刻蚀，电学刻蚀等功能，同时实现纳米操纵； 1.8样品台： （1）标准样品尺寸：35mm*35mm*15mm； （2）可以垂直放入各种高度超过50mm的柱状样品； （3）可以直接放入各种长度超过50mm的条状样品； （4）可以直接放入培养皿进行溶液成像 （5）*透光样品可以从下部和上部进行光照射，便于样品定位； 1.9内置三锁相快扫描功能的控制器 *（1）64G的RAM和60MHz的峰值速率来进行算术运算 （2） 扫描速度：0.1~100Hz； （3）数据采集： 从256×256到8096×8096 （4）测量数据通道:32通道； *（5）独立设置的内置的三锁相通道，频率范围从0.1Hz到 6MHz，3dB的噪音水平 （6）频率分辨率：0.009Hz *（7）输出带宽：80Hz,100Hz, 200Hz, 500Hz, 1kHz, 2kHz,5kHz, 10kHz, 20kHz （8）振幅驱动控制： 16-bit， 0.3mV的分辨率 （9）相位驱动控制： 12-bit， 0.088 degrees的分辨率 （10）针尖自动逼近样品，三个马达控制逼近过程，同时这三个马达可分别手调。 1.11 其它控件： （1）防震抗噪装置：垂直抗震小于1Hz； （2）光学显微镜：分辨率优于1.5μm，带有CCD，LCD端放大倍数高于450倍，既能上部光照，也能下部光照。 （3）随机提供专业后处理软件：具有实时、在线图像处理功能；可在线直接升级。 2、设备主要配置及附属设备 2.1主要配置 （1）扫描探针显微镜1台，包括：主显微镜部分，样品台，溶液池，AFM/LFM探测器和悬臂底座?； （2）环境控制装置，包括：环境控制腔； （3）多通道数据采集控制系统1套； （4）扫描电容及高次谐波信号装置1套 （5）高分辨扫描器； （6）声学驱动敲击模式控制器1套（含独立三锁相控制、内置Q-control） （7）电脑及专业分析处理软件。 2.2附属设备 （1）光学定位系统1套； （2）防震抗噪装置1套； （3）仪器安装启动包1套； （4）各种模式探针110个； （5）标准样品（云母片，光栅）及工具1套。 设备二：扫描电镜 数量：一台 1、安装条件 1.1电源电压220V（±10%），50Hz 1.2独立地线接地电阻＞40欧姆 1.3实验室温度15~30℃，湿度≤70%。 2、技术要求 *2.1 SE探头分辨率：3.0nm @ 30KV 7.0nm @ 3KV *2.2 BSE探头分辨率：4.0nm @ 30KV 10.0nm @ 5KV 2.3 放大倍数：最低倍率≤5倍，最高倍率≥300,000 2.4 真空系统 *2.4.