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ES操作规范.doc
ZHU HAI TONG CHUANG XING ELECTRONIC TECHNOLOGY CO., LTD
珠海同创兴电子科技有限公司
文件编号:TCX-WI-KL001
DES作业规范
版本:F
页码:第1页共5页
生效日期:2016年11月20日
审批 ’
审批 ’
批准??
H期:
文件修订履历
版本
修订内容
制/修订日期
制/修订人
A
新修订
B
完善操作
2016.11.15
ZHU HAI TONG CHUANG XING ELECTRONIC TECHNOLOGY CO., LTD
珠海同创兴电子科技有限公司
文件编号:TSJCD-WI PD0401
DES作业规范
版 本:F
页 码:第2页共5页
生效日期:2016年11月20日
目的
规范DES流程相关参数、操作及保养维护等作业要求,保证产品品质
适用范围
适用于我司DES流程相关操作、点检监督与维护人员。
流程图/工段说明
流程图:
ZHU HAI TONG CHUANG XING ELECTRONIC TECHNOLOGY CO., LTD
珠海同创兴电子科技有限公司
文件编号:TSJCD-WI PD0401
DES作业规范
版 本:F
页 码:第3页共5页
生效日期:2016年11月20 口
该流程各工段说明:
显影:通过化学反应除去板件上没有被曝光的干膜,露出待蚀刻的铜面。
蚀刻:通过化学反应除去板件上无干膜覆盖位置的铜,形成所需线路图形。
脱膜:通过退膜药水彻底除去板件上覆盖的所有干膜。
职责
生产部:负责执行设备相关生产操作和维护保养。
工艺部:负责规范参数与操作,持续优化并协助监督。
品质部:负责点检相关参数并监督稽核生产操作与维护保养情况。
维修部:负责维修设备异常和协助保养,并定期检查设备相关性能。
定义
于显影段去除板件上未被曝光的干膜,露出待蚀刻的铜面,然后经蚀刻段消除露出的铜、 形成所需的线路,最后通过退膜段将板件上被曝光干膜去除。
内容
6.1 参数控制
控制项目
控制要求
分析/点检频率
显影
Na2C0、(碳酸钠)
1.0±0.2%
1次/班
显影缸及添加缸温度
30±2C
1次/班
敁影压力
1. 0-1. 5kg/cm2
1次/班
PH值
10-12
1次/班
S影速度
25/30
2. 8-3. 5m/min
1次/班
40/50
2. 0~3. Om/min
1次/班
以上,按显影点40%-60%调整控制
1次/班
孔点干膜
2. 0-3. Om/min
1次/班
溢流水洗流量
200L/H
1次/班
溢流水洗上/下压力
1. 0-1. 5 kg/cm2
1次/班
蚀刻
HC1 (盐酸)
1-3N
1次/班
Cu27二价铜离子)
120-170g/L
1次/班
SG (比重)
1.32±0. 02
1次/班
温度
50±2°C
1次/班
蚀刻压力
上
1. 0-2. Okg/cm2
1次/班
下
1. 0-2. Okg/cm3
1次/班
ZHU HAI TONG CHUANG XING ELECTRONIC TECHNOLOGY CO., LTD
珠海同创兴电子科技有限公司
文件编号:TSJCD-WI-PD0401
DES作业规范
版 本:F
页 码:第4页共5页
生效日期:2016年11月20日
蚀刻速度
12-16um
3.0±0.5m/min
1次/班
17-23um
2.3±0.3m/min
1次/班
24-30um
1.7±0.3m/min
1次/班
31 Mm
1.1±0.4m/min
1次/班
溢流水洗流量
200L/H
1次/班
溢流水洗上/下压力
1.0-1.5kg/cm2
1次/班
脱膜
NaOH(氢氧化钠)
2%-4%
1次/班
脱膜缸及添加缸温度
50±5°C
1次/班
脱膜压力
0.8-1.5kg/cm
1次/班
脱膜速度
25/30
2.5±0.5m/min
1次/班
40/50
1.5±0.5 m/min
湿膜板
1-2m/mjn
溢流水洗流量
200L/H
1次/班
溢流水洗上/下压力
1.0-1.5kg/cm
1次/班
酸洗
H2SO4 (硫酸)
4%-6%
1次/班
酸洗压力
1.0-1.5kg/cm2
1次/班
溢流水洗流量
200L/H
1次/班
溢流水洗上/下压力
1.0-1.5kg/cm2
1次/班
烘干
温度
90±5°C
1次/班
6.2
6.2.1
6.2.1.1
6.2.1.2
6.2.1.3
注:①蚀刻喷压下喷压力都一致,压力大小根据上下蚀铜萤由丁.艺部设定,员丁.不许私调整。现场点检确保下喷压 力在管控范围rt设定一致:②蚀刻上喷压力在管控范围内设定不一致,各喷管对应的压力由蚀铜贵及蚀刻均匀性决 定并由工艺部设定,员工不许私ft调整。现场点检确保上喷
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