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工业CT几何尺寸测量中的 图像质量优化方法研究-军事情报学专业论文.docx

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工业CT几何尺寸测量中的 图像质量优化方法研究-军事情报学专业论文

万方数据 万方数据 A Dissertation Submitted to PLA Information Engineering University for the Degree of Master of Military Research on Image Quality Optimization in Geometric Dimensions Measurement by Industrial Computed Tomography Candidate: Xiang Zhang Supervisor: Prof. Jianxin Li Apr. 2015 原创性声明 本人声明所提交的学位论文是本人在导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果。 尽我所知,除了文中特别加以标注和致谢的地方外,论文中不包含其他人已经发表和撰写 过的研究成果,也不包含为获得信息工程大学或其他教育机构的学位或证书而使用过的材 料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明确的说明并表示谢 意。 学位论文题目: 工业 CT 几何尺寸测量中的图像质量优化方法研究 学位论文作者签名: 日期: 年 月 日 作者指导教师签名: 日期: 年 月 日 学位论文版权使用授权书 本人完全了解信息工程大学有关保留、使用学位论文的规定。本人授权信息工程大学 可以保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和电子文档,允许论文被查阅和借 阅;可以将学位论文的全部或部分内容编入有关数据库进行检索,可以采用影印、缩印或 扫描等复制手段保存、汇编学位论文。 (保密学位论文在解密后适用本授权书。) 学位论文题目: 工业 CT 几何尺寸测量中的图像质量优化方法研究 学位论文作者签名: 日期: 年 月 日 作者指导教师签名: 日期: 年 月 日 保密级别: 保密年限: 年 月至 年 月 (保密委员会公章) 摘 要 几何尺寸测量是逆向 工程的 关键环节 , 基 于 工 业 计 算 机 断 层 成 像 ( Computed Tomography,CT)的几何尺寸测量方法具有非破坏性、测量精度高的优点,因此获得了越 来越广泛的关注。实际测量中,受 X 射线连续能谱特性、探测器动态响应范围、射线源焦 斑非质点特性等因素的制约,CT 图像质量会受到不同程度影响,导致几何尺寸测量精度 降低。因此,研究 CT 图像质量的优化方法对提高基于工业 CT 的几何尺寸测量精度具有 重要的学术价值和实际意义。 为了提高工业 CT 几何尺寸测量精度,本文对影响 CT 图像质量的射束硬化伪影、探 测器动态响应范围限制和点扩展效应三个重要因素展开研究,取得的主要成果如下: 1、针对 CT 图像中的射束硬化伪影问题,提出了一种基于指数模型的射束硬化校正方 法。该方法以射束硬化指数模型参数为待求变量,通过引入 CT 图像均匀性和校正参数先 验信息两个约束条件,构建了以带有约束项的灰度熵为代价函数的最优化模型,并使用单 纯形法迭代求解硬化模型参数,将其用于原始投影数据的校正。仿真和实际数据实验结果 表明:本文方法能有效抑制射束硬化伪影,提升 CT 图像质量,基于硬化校正后 CT 图像 的几何尺寸测量精度得到明显提升。 2、针对探测器动态响应范围不足造成图像质量降低的问题,提出了一种基于动态时 间弯曲(Dynamic Time Wrapping,DTW)的变电流投影融合方法。该方法利用不同电流投 影的灰度值-有效边缘梯度序列来刻画投影边缘变化程度,并运用 DTW 方法对序列进行匹 配,自动确定最佳融合阈值,随后根据阈值确定不同电流投影的子区域并对其进行融合, 实现了对探测器动态范围的扩展。仿真和实际数据实验结果表明:本文方法能弥补探测器 曝光过度带来的 CT 图像缺失,并且可以提升 CT 图像信噪比,基于融合后 CT 图像的几何 尺寸测量精度明显改善。 3、针对点扩展效应引起的 CT 图像模糊退化问题,提出了一种基于点扩展函数(Point Spread Function,PSF)测量和交替方向总变分(Total Variation,TV)最小化的图像复原 方法。该方法首先构建了基于可分离高斯函数的 PSF 模型,利用黄金分割法迭代求解模型 参数;然后以退化后 CT 图像的 TV 作为目标函数建立最优化模型,通过交替方向法求解 复原后的图像,复原后的 CT 图像在消除模糊退化的同时较好地保持了边缘。仿真和实际 数据实验结果表明:本文方法能够降低 CT 图像的模糊退化程度,基于复原后 CT 图像的 几何尺寸测量精度得到有效提高。 关键词:工业 CT,几何尺寸测量,射束硬化校正,变电流投影融合,图像复原 第 I 页 第 II 页 Abstract Dimensional metrology is a key

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