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第二章 光电检测系统设计的基本原则 九个基本原则： 一．匹配原则（光电匹配、精度匹配）见P12 1.光电匹配 光电匹配是系统设计中必须考虑的问题。其内容主要包括 1）根据被测目标的辐射特性，合理选择满足目标光谱特性的光源（包括光源的光谱特性、功率、寿命、灯丝形状等）。 2）根据被测信号的光谱特性选择与之匹配的光电探测器（包括深测器的频率响应，光谱响应、灵敏度、暗电流、探测器形状等）。 3)根据光源、探测器特性和总体要求设计与之匹配的光学系统（照明系统和光电变换光学系统）。其中包括光学元件材料的 选取，膜系设计等。 光源 光源 目标 光学系统 探测器 2.精度匹配 在光电系统的精度设计中，光、机、电各部分的精度一般应该和系统总精度相匹配，而系统总精度也应与使用要求相适应，无限制的提高系统的总精度不仅对检测无益，而且还会导致成本提高，稳定性下降。根据实际设计经验，拟出以下几条作为设计时参考： 1）．测量系统的总精度值可根据被测工件的公差值和同一尺寸被测量的次数或成品筛选的合格率要求确定。一般为：测量系统总精度应为被测工件的公差值的1/2~1/10； 2).仪器的分辨率（或最小脉冲当量）一般取仪器总精度的1/2~1/5； 3).在精度设计时，仪器的总系统误差一般为仪器总误差的1/3。 例：被测件的公差=|0.01-(-0.01)|=0.02mm 则光电检测系统总精度=(1