基于EIV模型的点线位姿估计-中国科学院沈阳自动化研究所.PDF

第34 卷 第6 期 计 算 机 工 程 2008 年3 月 Vol.34 No.6 Computer Engineering March 2008 ·人工智能及识别技术· 文章编号：1000—3428(2008)06—0224—03 文献标识码：A 中图分类号：TP311 基于EIV 模型的点线位姿估计 汪俊文 1,2 ，侯庭波 1,2 ，朱 枫 1 (1. 中国科学院沈阳自动化研究所，沈阳 110016 ；2. 中国科学院研究生院，北京 100049) 摘 要：针对基于多个点线特征的位姿估计问题，该文将点线特征约束统一成二次型约束的形式，并引入 EIV 模型描述影响点线特征投影 的噪声。为了简化问题，采用伪线性化方法，并提出了基于奇异值分解的迭代算法来估计位姿参数。实验表明该算法受初始值影响小，收 敛快，能够提供高精度和鲁棒的位姿估计结果。 关键词：双重四元数；EIV 模型；位姿估计 Pose Estimation for Noisy Points or Lines Based on EIV Model WANG Jun-wen1,2, HOU Ting-bo1,2, ZHU Feng1 (1. Shenyang Institute of Automation, Chinese Academy of Sciences, Shenyang 110016; 2. Graduate University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049) 【Abstract 】For the pose estimation problem using n points or n lines, this paper turns the point or line correspondences into the unified quadratic forms. Since the 2D perspective projection point or line features are corrupted by noise, it introduces EIV model to describe it. It also emploies pseudo-linearization to simplify the problem and proposes an iterative algorithm based on SVD to estimate the pose parameters. The method has a weaker dependence on the initial solution and a fast convergence. Experimental results demonstrate the reliable accuracy and robustness of the method. 【Key words 】dual number quaternions; Errors-In-Variables (EIV) model; pose estimation 1 概述 因为特征的投影受到噪声的影响( 如投影点的量化误 关于特征定位问题，以前的研究工作分为 2 类：闭式解 差) ，所以引入了 EIV(Errors-In-Variables)模型。该统