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测量系统分析(MSA)高级讲师：陈忠敏  二00七年一月一十八日 第三版和第二版MSA的区别 ISO/TS16949:2002与MSA 要求条文 为分析在每一种类型的测量和试验设备系统结果中出现的变差，必须进行统计研究。此要求必须适用于在控制计划中涉及的测量系统。所用的分析方法和接收准则必须与顾客关于测量系统分析的参考手册相一致。如果得到顾客的批准，也可采用其它的分析方法和接收准则。.(如:偏倚、线性、稳定性、重复性、再现性研究）。 要点说明： 对控制计划中列入的测量系统要进行测量系统分析。 测量分析方法及接受准则应与测量分析参考手册一致。 经顾客批准，可以采用其它方法及接受准则。 MSA手册强调要有证据证明上述要求已达到。 PPAP手册中规定：对新的或改进的量具、测量和试验设备应参考MSA手册进行变差研究。 APQP手册中，MSA为“产品/过程确认”阶段的输出之一。 SPC手册指出MSA是控制图必需的准备工作。 什么是测量系统 测量系统 用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件及操作人员的集合。 测量系统应具备的特性 1.处于统计控制状态,即只存在变差的普通原因. 2.测量系统的变异性(Variability )小于过程变异性. 3.测量系统的变异性小于技术规范界限. 4.测量增量(increments )