实验：测定金下属的电阻率.pptVIP

变式训练1：影响物质材料电阻率的因素很多，一般金属材料的电阻率随温度的升高而增大，而一般半导体材料的电阻率则与之相反，随温度的升高而减小.某课题研究组需要研究某种导电材料的导电规律，他们用该种导电材料制作成电阻较小的线状元件Z做实验，测量元件Z中的电流随两端电压从零逐渐增大过程中的变化规律. (1)他们应选用下图所示的哪个电路进行实验( 　　 ) A (2)按照正确的电路图连接图8-5-5的实物图. 图8-5-5 (3)实验测得元件Z的电压与电流的关系如下图所示.根据表中数据，判断元件Z是金属材料还是半导体材料. Z是 　　. U(V) 0 0.40 0.60 0.80 1.00 1.20 1.50 1.60 I(A) 0 0.20 0.45 0.80 1.25 1.80 2.81 3.20 半导体 (4)用螺旋测微器测得线状元件Z的直径如图8-5-6所示，则Z的直径是　　mm. 图8-5-6 1.990 在用伏安法测电阻的实验中，所用电压表的内阻约为20kΩ，电流表的内阻约为10Ω，选择能够尽量减小误差的电路图接线进行实验，读得的各组数据用实心圆点标于坐标上，如图8-5-9所示． (1)根据各点表示的数据描 出I-U图线，由此求得该电阻 的阻值Rx= _____ (保留两位有效数字)． (2)画出此实验的电路原理图． 图象法处理数据在该实验中的应用 解析：本题采用图像法解题，只要正确画出I—U图线，然后从图线中求出Rx，作图线时使多数点在图线上，被测电阻Rx阻值看成是不变的，则图线应是通过原点的一条直线．图线的斜率等于被测电阻阻值Rx. (1)舍去不合理的点．直线如图甲所示．Rx=2.4×103Ω (2.3×103或2.5×103也算对)． 如图甲所示，观察6个实验点，发现第4点偏差较大，舍去不用，将其余五点连成直线，得到过坐标原点的I—U图像．由图像适当选取I、U值， 甲 (2)由于待测电阻较大，Rx?RA，测量电路应设计为内接法． 由于待测电阻较大，控制电路宜采用分压电路如图乙，但由于滑动变阻器阻值情况不明确，也可用限流接法． 乙 asdf 恒定电流 实验：测定金属的电阻率 第二章 一、螺旋测微器 1.构造 如图8-5-1所示是常用的螺旋测微器，它的测砧A和固定刻度G固定在框架F上，旋钮K、微调旋钮K′和可动刻度H 、测微螺杆P连在一起，通过精密螺纹套在G上. 图8-5-1 2.原理 精密螺纹的螺距是0.5mm，即K每旋转一周，P前进或后退0.5mm，可动刻度分成50等份，每一等份表示0.01mm，即可动刻度每转过一等份，P前进或后退0.01mm.因此，从可动刻度旋转了多少个等份就知道长度变化了多少个0.01mm.用它测量长度，可以精确到 　mm，还可以估读到0.001mm(即毫米的千分位)，因此螺旋测微器又称为千分尺. 0.01 3.读数方法 先从固定刻度G上读出半毫米整数倍的部分，不足半毫米的部分由可动刻度读出，即看可动刻度上的第几条刻度线与固定刻度线上的横线重合，从而读出可动刻度示数(注意估读). 测量长度=固定刻度示数+可动刻度示数×精确度. (注意单位为mm) 如图8-5-2所示，不足半毫米 而从可动刻度上读的示数为 15.5格，最后的读数为： 图8-5-2 2.0mm+15.5×0.01mm=2.155mm. 4.注意事项 (1)测量前须校对零点：先使小砧A与测微螺杆P并拢，观察可动刻度的零刻度线与固定刻度的轴向线是否重合，以及可动刻度的边缘与固定刻度的零刻度线是否重合，否则应加以修正. (2)读数时，除注意观察毫米整数刻度线外，还要特别注意半毫米刻度线是否露出.螺旋测微器要估读，以毫米为单位时要保留到小数点后第三位. (3)测量时，当螺杆P快要接触被测物体时，要停止使用粗调旋钮K，改用微调旋钮K′，当听到“咔、咔”响声时，停止转动微调旋钮K′，并拧紧固定旋钮.这样做既可保护仪器，又能保证测量结果的准确性. 二、测定金属的电阻率 1.实验目的 (1)练习使用螺旋测微器 (2)学会用伏安法测量电阻的阻值 (3)测定金属的电阻率 2.实验原理 根据电阻定律公式R=　　，只要测出金属导线的长度l和它的直径d，计算出导线的横截面积S，并用伏安法测出金属导线的电阻R，即可计算出金属导线的电阻率. 3.实验器材 米尺(最小分度值1mm)、螺旋测微器、直流电压表和直流电流表、滑动变阻器、电池、开关及连接导线、金属电阻丝. 4.实验步骤 (1)用螺旋测微器在被测金属导线上三个不同位置各测一次直径，求出其平均值d，计算出导线的横截面积S. (2)用毫米刻度尺测量接入电路中的被测量