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电感耦合等离子体-质谱法 Inductively Coupled Plasma – Mass Spectrometry (ICP-MS) 目录 ICP-MS的起源和发展 ICP-MS系统组成及工作原理 1. 电感耦合等离子体 2. ICP与MS的接口(Interface) 3. 质谱仪 4. ICP-MS样品引入系统（进样方式） 5. 质谱图及其干扰 ICP-MS分析应用 总结：ICP-MS方法的性能及特点 ICP-MS的起源和发展 1、1960s~70s，问题的提出 电感耦合等离子体-原子发射光谱技术 (ICP-AES) 火花源无机质谱用于痕量元素分析 (SSMS) 3. 元素分析的质谱时代 1980，Houk Fassel首次发表ICP-MS联用技术的工作 (两级真空接口技术，Ames Lab., Iowa Univer., USA) 1983, “匹兹堡化学年会”，第一台ICP-MS商品仪面世 (Elan 250, Sciex) 1990， “It has truly become a technique for MASSES” (Dr. Koppenaal) 2000，全世界共有3500~4000台ICP-MS仪器 IC