《霍尔法测量磁滞回线和磁化曲线》-课件设计(公开).pptVIP

霍尔法测量铁磁材料的磁滞回线和磁化曲线 【目的与要求】 1.学习材料剩磁的退磁方法； 2.用霍尔传感器测量铁磁材料的磁化曲线和磁滞回线 【原理】 1.霍尔效应：如图1所示，把半导体薄片（锗片或硅片）放在磁感应强度为B的磁场中，并使薄片平面垂直于磁场方向，如果在纵向（垂直于B的方向），通以电流I,那麽在薄片的两侧面a,b之间就会产生电势差，这种现象称为霍尔效应。利用半导体在磁场中的霍尔效应可以对磁感应强度进行直接测量。 2.铁磁质材料的磁化规律： 铁磁质是一种特殊的磁介质，它在外磁场作用下，将产生很大的附加磁场，是实际中最常用的磁介质。在铁磁质中，B和H之间的关系不是简单的正比关系，而是非线性关系。如图2所示。 图 2 在介质未被磁化时，H=0,B=0.随着H逐渐增加， B沿着OA曲线变化，从零到达饱和点A， OA曲线称为起始磁化曲线。 铁磁质的起始磁化曲线是“不可逆”的，即当铁磁质达到饱和状态后，使H减小，B虽也将减小，但B的值并不沿原来的起始磁化曲线下降，而是沿着另一条曲线ARAˊ变化。 在达到反向磁化状态饱和点Aˊ以后，逐渐减小反向磁场，B将沿曲线AˊRˊA变化，回到正向