光电器件性能测试与应用.PDFVIP

光电器件性能测试与应用 一、实验目的： 1．了解光敏二极管、三极管的结构及工作原理。 2 ．掌握常用光敏器件的性能和极限参数。 3 ．体验光敏器件的具体应用。 二、光敏器件的工作原理 2 ．1 光敏二极管是一种光伏效应器件。由于势垒区内建电场的作用。PN 结、肖特基 结（即金属半导体结）等在受光照时会产生一个光生电动势，这就是光伏效应。以光伏效应 为工作机理的器件通称为光伏效应器件。因此，光敏二极管、光敏三极管及均效应光敏管， 光激可控硅等特种光敏器件，都属于光伏效应器件。 在光照下，若入射光子的能量大于禁带宽度，则 PN 结内会产生光生电子空穴对，这些 光生载流子存在了一段长短不同的时间后，又会因复合而消失。如图 2-1 所示，势垒区两边 产生的载流子中总有一部分能在复合前扩散到 势垒区的边界，基中少子受势垒区电场的吸引 被扫向对面区域，多子则受势垒区电场的排斥 而留在本区。势垒区内产生的光生电子和光生 空穴一经产生使受到电场的作用。分别被扫向 N 区和 P 区，这样，就产生出由势垒区中产生 的电子空穴对及势垒区两边能运动到势垒区的 少子所构成的光电流 IL ，它的方向是由N 区经 势垒区流向 P 区，即与光照对 PN 结的反向饱 和电流方向相同，因此，若 IL 仅表示光电流的 数值，则这个光电流应写为﹣IL ，以保持PN 结 电流的习惯方向。 当 PN 结短路时，这个光电流将全部流过 短接回路，即从势垒区和 P 区流入N 区的光生 电子将通过短接回路全部流到P 区电极处，与 P 区流出的光生空穴复合，因此，短路时外接 回路中的电流是IL ，方向由P 端（“端”指外端 电极处，下同）流向N 端，即 I= ﹣IL ，这时， PN 结中的载流子浓度维持平衡值，势垒高度亦 无变化。 当 PN 结开路或接有负载时，势垒区电场 收集的光生载流子便不能或不能全部流出，P 区和N 区就分别出现光生空穴和光生电子的积 累，它使 P 区电位升高，N 区电位降低，造成 了一个光生电动势，这电动势使势垒高度下降，相当于加在PN 结上的正向偏压，只不过这 是光照造成的而不是用电源馈送的，故称为光生电压。它使 P 区光生空穴和 N 区光生电子 分别向 N 区和 P 区回注，并分别在N 区与 P 区与电子和空穴复合，形成了由 P 区以势垒区 指向 N 区的正向注入电流IJ