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利用高光谱技术估测大豆育种材料的叶面积指数-作物学报
作物学报 ACTA AGRONOMICA SINICA 2015, 41(7): 10731085 /
ISSN 0496-3490; CODEN TSHPA9 E-mail: xbzw@
DOI: 10.3724/SP.J.1006.2015.01073
利用高光谱技术估测大豆育种材料的叶面积指数
* *
齐 波 张 宁 赵团结 邢光南 赵晋铭 盖钧镒
/ / () / ,
210095
: (LAI),
52 () 2 , (R2)(R4)
(R5), LAI (ABM), LAI
(426~710 nm)(P0.05), (748~1331 nm)(P0.05)
LAI , NDVI RVI LAI,
250~2500 nm , LAI ,
, R2 RVI (825, 586)(y = 0.03x 1.83)R4 RVI (763, 606)
0.14x 1.79 2
(y = 0.38e )R5 RVI (744, 580)(y = 0.06x ), (R )0.677
0.639 0.664, (RRMSE) 20%; (R2*) 0.6430.612 0.634,
*
(RRMSE )20% LAI ABM RVI R2 825 nm 586 nmR4 763 nm
606 nm R5 744 nm 580 nm
: ; ; ; ;
Prediction of Leaf Area Index Using Hyperspectral Remote Sensing in Breed-
ing Programs of Soybean
* *
QI Bo, ZHANG Ning, ZHAO Tuan-Jie, XING Guang-Nan, ZHAO Jin-Ming , and GAI Jun-Yi
Soybean Research Institute of Nanjing Agricultural University / National Center for Soybean Improvement / Key Laboratory for Biology and Genetic
Improvement of Soybean (General), Ministry of Agriculture / National Key Laboratory for Crop Genetics and Germplasm Enhancement, Nanjing
210095, China
Abstract: Leaf area index (LAI) is an im
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