第7章光电信息变换..ppt

双光路单光电器件的光电检测系统中光源发出的光经反射镜分为两路经调制盘的转动，使参考光与测量光分时进入系统，并分时由光电器件D接收。光电器件D分时接收到参考光信号和测量光信号后输出如图7-12所示的信号波形，输出的信号差即为被测信号。 4. 光外差式光电变换电路 概念：光外差是指两相干光束的光波频率产生一个小的频率差，引起干涉场中干涉条纹，经光电探测器将干涉场中的光信号转换为电信号。 图7-13所示为光外差式光电变换电路的原理示意图。设被测信号与本机振荡信号光束均为简谱函数，并分别表示， 其中Es和EL为光束的振幅，且差频ω?ωs。 那么，入射到检测器上的总光场为： 光检测器的响应与光电场的平方成正比，所以光检测器的光电流为： 式中第一、二项为余弦函数平方的平均值，等于1/2。第三项为和频项，频率太高，光混频器不响应，可略去，第四项为差频项，频率低得多，当差频信号ωC/2π低于光检测器的上限截止频率时，检测器就有频率为ωC/2π的光电流输出。 如果把信号的测量限制在差频的通常范围内，则可以得到通过以ωC为中心频率的带通滤波器的瞬时中频电流为： 中频滤波器输出端，瞬时中频信号电压为： 中频输出有效信号功率就是瞬时中频功率在中频周期内的平均值，即： 当ω=0，即信号光频率等于本振光频率时，则瞬时中频电流为： 这是外差探测的一种特殊形式，称为零差探测。 一、光外差检测可获得全部信息 外差检测不仅可检测振幅和强度调制的光信号，还可检测频率调制及相位调制的光信号。在直接检测系统是不可能的。 二、光外差检测转换增益G高 光外差检测中频输出有效信号功率为： 在直接检测中，检测器输出电功率为： 两种方法得到的信号功率比G为： 可知，在微弱光信号下，外差检测更有用。 三 良好的滤波性能 光外差检测中，取信号处理器通频带为Δf=fL-fs，则只有此频带内的杂光可进入系统，对系统造成影响，而其它的杂光噪声被滤掉。因此外差检测系统不需滤光片，其效果也远优于直接检测系统。 比较式（7-30）和式（7-32），可见光外差式的S/N提高了一倍。如果考虑背景噪声，光外差式的S/N提高得更高。 例：目标沿光束方向运动速度υ=0-15m/s，对于CO2激光信号，多普勒频率fs为： 通频带Δf1取为： 而直接检测加光谱滤光片时，设滤光片带宽为1nm，所对应的带宽，即通频带Δf2=3000MHz。 可见，外差检测对背景光有强抑制作用。 另：速度越快，多普勒频率越大，通频带越宽。 7.2.2 模-数光电变换电路 模-数光电变换系统对光源和光电器件的要求不象模拟 光电变换那样严格，只要能使光电变换电路输出稳定的“0”和“1”两个状态即可。因此，模-数光电变换电路的设计要比模拟光电变换电路简单得多。 1. 激光干涉测位移 如图7-14所示为激光单路干涉测位移的原理图。He-Ne激光器发出的光入射到反射镜M1（分光器）上分成两束，一束为参考光束，另一束为测量光。两束光分别经全反射镜M2与M3回到M1，并在M1处产生干涉。 1. 激光干涉测位移 干涉条纹被光电器件接收，形成脉冲信号。 显然，参考光束与测量光束的光程不相等。当光程差Δ是波长λ的整数倍时，即Δ＝±K入(K=0，1，2，3…)时，两束光波的相位相同， M1处的光强度最大(出现亮点)，光电器件输出高电平；当光程差Δ＝±(K十1/2) λ时，两束光波的位相差为π， M1处的光强度为零(出现暗点) ，光电器件输出低电平。 当M3沿着测量光束的光轴移动时，在M1上将出现亮暗交替的干涉条纹，其光强度的变化规律为 Iv=Iov+IovKIcos(2πΔ/λ) 从上式可知，光程差每变化波长λ时，干涉条纹暗亮变化一次，当干涉条纹变化n次时，光程差Δ＝nλ。对于图7-14所示结构，光程差Δ是动镜M3位移量L的二倍。因此，被测位移量 L=nλ/2 只要计量干涉条纹的个数n，便可测出测量头移动的长度。这种结构的量化单位为λ/2 2. 莫尔条纹测位移 两块光栅以微小角度重叠时，在与光栅大致垂直的方向上，将看到明暗相间的粗条纹，称为莫尔条纹(moire fringe)。 如图7-16所示为两种计量光栅示意图。其中图（a）为刻划光栅。 图7-16(b)为用腊腐蚀或照相腐蚀的方法制成的黑白光栅。计量光栅的黑白线条等宽，光栅的节距（光栅常数）为等间隔的。 /v_show/id_XNjE2NjgyMjAw.html 当两快光栅接近重叠时便产生如图7-17所示的莫